Detalhes do produto
Place of Origin: China
Marca: zmsh
Termos de pagamento e envio
Materiais: |
> 99,99% Cristal de safira |
Diâmetro: |
200 mm±0,2 mm |
Thickness: |
725±25um |
Orientation: |
C-Plane <0001> |
TTV: |
≤15um |
WRAP: |
≤30um |
BOW: |
-30~10um |
Materiais: |
> 99,99% Cristal de safira |
Diâmetro: |
200 mm±0,2 mm |
Thickness: |
725±25um |
Orientation: |
C-Plane <0001> |
TTV: |
≤15um |
WRAP: |
≤30um |
BOW: |
-30~10um |
Wafer de safira de 8 polegadas de diâmetro 200 mm (± 0,2 mm), espessura 725 μm, plano C, 99,99% puro
Esta bolacha de safira de alta pureza de 8 polegadas (200 mm) apresenta uma precisão dimensional excepcional (diâmetro ± 0,2 mm, espessura de 725 μm) e orientação cristalográfica (plano C),tornando-o ideal para aplicações optoeletrônicas e semicondutores exigentesCom uma pureza de 99,99% e uma estabilidade mecânica/térmica superior, a bolacha serve como um substrato ideal para a fabricação de LEDs, diodos laser e dispositivos de RF.O acabamento uniforme da superfície e a inércia química garantem sua fiabilidade em ambientes adversos, enquanto o seu grande diâmetro permite uma produção em massa económica.
Características fundamentais das wafers de safira
Geometria de precisão:
Excelência cristalográfica:
Ultra-alta pureza:
Propriedades materiais robustas:
Qualidade da superfície:
Aplicações das Wafers de Safira
Optoeletrónica:
Substrato para LEDs azuis/verdes/brancos (epitaxia InGaN/GaN).
Diodos laser (emissores de borda/VCSEL) em monitores e comunicações.
Eletrónica de Potência:
Dispositivos de RF (5G/6G antenas, amplificadores de potência) devido à baixa perda dielétrica.
Transistores de alta mobilidade electrónica (HEMT) para veículos elétricos.
Industrial e Defesa:
Janela infravermelha, cúpula de míssil (transparência de safira até a metade do infravermelho).
Coberturas protetoras para sensores em ambientes corrosivos/abrasivos.
Tecnologias emergentes:
Computação quântica (substratos de cristal SPD).
Ecrãs de dispositivos portáteis (coberturas resistentes a arranhões).
Especificações
Parâmetro |
Valor |
---|---|
Diâmetro | 200 mm ± 0,2 mm |
Espessura | 725 μm ± 25 μm |
Orientação | Plano C (0001) ±0,2° |
Purificação | > 99,99% (4N) |
Roughness da superfície (Ra) | < 0,3 nm (pronto para epi) |
TTV | ≤ 15um |
WARP | ≤ 30um |
Arco-íris | -30~10um |
Perguntas e respostas
P1: Por que escolher a safira do plano C para a epitaxia de GaN?
A1:A simetria hexagonal do plano C corresponde à estrutura cristalina do GaN, reduzindo a incompatibilidade da rede e permitindo um crescimento epitaxial de alta qualidade para LEDs e dispositivos de energia.
P2: Como a espessura (725μm) afeta o desempenho da wafer?
A2:725μm equilibra a estabilidade mecânica (reduzindo a quebra durante o manuseio) com a condutividade térmica, crítica para a dissipação de calor uniforme em processos MOCVD.
P3: Esta bolacha pode ser usada para aplicações de laser de alta potência?
A3:A sua elevada condutividade térmica e transparência nos comprimentos de onda UV-NIR tornam-na adequada para substratos de diodos laser e janelas ópticas.
Q4:Dispõe de orientações personalizadas (por exemplo, plano R)?
A5:As placas A-plane, R-plane e M-plane podem ser personalizadas para aplicações especializadas como dispositivos SAW.