| Nome da marca: | ZMSH |
| Número do modelo: | Substrato SiC 10×10mm |
| MOQ: | 25 |
| preço: | by case |
| Tempo de entrega: | 2-4 semanas |
| Condições de pagamento: | T/T |
Solução de semicondutores de alto desempenho para electrónica avançada
O...Substrato de carburo de silício (SiC) de tipo 4H-N de 10 × 10 mmÉ um material semicondutor de alto desempenho baseado na tecnologia SiC de terceira geração.Transportes físicos de vapor (PVT)ouDeposição química a vapor a alta temperatura (HTCVD), oferece propriedades térmicas, eléctricas e mecânicas excepcionais.± 0,05 mme rugosidade da superfícieRa < 0,5 nm, é ideal para prototipagem de dispositivos de potência, componentes de RF e sistemas optoeletrônicos.4H-SiCou6H-SiCPolytipos, com opções de dopagem do tipo N ou do tipo P, e submetidos a rigorosas inspecções de qualidade (por exemplo, XRD, microscopia óptica) para garantir a fiabilidade do grau de semicondutor.
Tabela 1: Parâmetros-chave do substrato SiC tipo 10×10 mm 4H-N
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Categoria de parâmetros |
Especificações |
|---|---|
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Tipo de material |
4H-SiC, dopado de tipo N |
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Dimensões |
10 × 10 mm (tolerância ± 0,05 mm) |
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Opções de espessura |
100 ‰ 500 μm |
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Superfície rugosa |
Ra < 0,5 nm (polido, preparado para epitaxia) |
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Propriedades elétricas |
Resistividade: 0,01 × 0,1 Ω·cm; Concentração do transportador: 1 × 1018 × 5 × 1019 cm−3 |
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Orientação Cristalina |
(0001) ±0,5° (padrão) |
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Conductividade térmica |
490 W/m·K (típico) |
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Densidade de defeito |
Densidade de microtubos: < 1 cm−2; Densidade de dislocação: < 104 cm−2 |
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Personalização |
Formas não normalizadas, perfis de dopagem, metalização posterior |
Gestão térmica superiorCom uma condutividade térmica de:490 W/m·K(3 vezes superior ao silício), o substrato permite uma dissipação de calor eficiente, reduzindo as temperaturas de funcionamento do dispositivo e aumentando a longevidade do sistema.
Tolerância à alta tensão: uma intensidade de campo de ruptura de2 ̊4 MV/cmA velocidade de deriva de saturação de elétrons (2 × 107 cm/s) beneficia projetos de alta frequência.
Robustez mecânica: Dureza de Vickers28 ∼ 32 GPae resistência flexível >400 MPafornecer 5×10 vezes mais vida útil do que materiais convencionais.
Estabilidade ambiental: Temperaturas de funcionamento até600°Ce um baixo coeficiente de expansão térmica (4.0×10−6/K) garantir o desempenho em condições extremas.
Tabela 2: Áreas de aplicação principais de substratos de SiC de 10×10 mm
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Área de aplicação |
Use Casos |
Benefícios |
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Veículos elétricos |
Inversores de transmissão, MOSFETs/diodos SiC |
Eficiência do inversor superior a 3·5% e autonomia EV alargada |
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Infraestrutura 5G |
Amplificadores de potência de RF (bandas de onda mm: 24 ∼ 39 GHz) |
> 20% de redução do consumo de energia da estação de base |
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Grades inteligentes |
Sistemas HVDC, transformadores de estado sólido |
Melhoria da eficiência da transmissão de energia |
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Automatização industrial |
Motores de alta potência (frequência de comutação > 100 kHz) |
Tamanho do dispositivo reduzido em 50% |
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Aeronáutica e Defesa |
Sistemas de alimentação por satélite, comandos de motores |
Confiabilidade em temperaturas extremas/radiação |
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Optoeletrónica |
LEDs UV, diodos laser |
Substrato óptimo devido à ampla distância de banda e estabilidade térmica |
Geometria: Formas redondas, retangulares ou definidas pelo utilizador.
Doping: Tipo N ou tipo P com concentrações de1015 a 1019 cm−3.
Espessura: 100 ‰ 500 μm, com metalização posterior opcional para uma melhor integração.
O substrato SiC tipo 10×10mm 4H-N combina propriedades avançadas de materiais com flexibilidade no design, tornando-o um facilitador crítico para a próxima geração de eletrônicos em automóveis, comunicação,e sistemas energéticosA sua compatibilidade com aplicações de alta temperatura, alta frequência e alta potência coloca-o como uma pedra angular da inovação em semicondutores.