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Detalhes dos produtos

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Created with Pixso. Substrato SiC Tipo 4H-N Wafer de 10x10mm para Eletrônica de Potência

Substrato SiC Tipo 4H-N Wafer de 10x10mm para Eletrônica de Potência

Nome da marca: ZMSH
Número do modelo: Substrato SiC 10×10mm
MOQ: 25
preço: by case
Tempo de entrega: 2-4 semanas
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
China
Certificação:
rohs
Tipo:
4H-SiC
Dimensões padrão:
10 × 10 mm (tolerância ± 0,05 mm)
Opções de espessura:
100 a 500 μm
Resistividade:
0.01-0.1 Ω·cm
Condutividade Térmica:
490 W/m·K (típico)
Aplicações Dispositivos:
Veículos de nova energia motores, electrónica aeroespacial
Detalhes da embalagem:
Pacote em sala de limpeza de 100 graus
Habilidade da fonte:
1000pcs por mês
Descrição do produto
Substrato SiC tipo 10×10 mm 4H-N: Visão geral técnica e aplicações

Solução de semicondutores de alto desempenho para electrónica avançada


1. Visão geral do produto

O...Substrato de carburo de silício (SiC) de tipo 4H-N de 10 × 10 mmÉ um material semicondutor de alto desempenho baseado na tecnologia SiC de terceira geração.Transportes físicos de vapor (PVT)ouDeposição química a vapor a alta temperatura (HTCVD), oferece propriedades térmicas, eléctricas e mecânicas excepcionais.± 0,05 mme rugosidade da superfícieRa < 0,5 nm, é ideal para prototipagem de dispositivos de potência, componentes de RF e sistemas optoeletrônicos.4H-SiCou6H-SiCPolytipos, com opções de dopagem do tipo N ou do tipo P, e submetidos a rigorosas inspecções de qualidade (por exemplo, XRD, microscopia óptica) para garantir a fiabilidade do grau de semicondutor.


2Especificações técnicas

Tabela 1: Parâmetros-chave do substrato SiC tipo 10×10 mm 4H-N

Categoria de parâmetros

Especificações

Tipo de material

4H-SiC, dopado de tipo N

Dimensões

10 × 10 mm (tolerância ± 0,05 mm)

Opções de espessura

100 ‰ 500 μm

Superfície rugosa

Ra < 0,5 nm (polido, preparado para epitaxia)

Propriedades elétricas

Resistividade: 0,01 × 0,1 Ω·cm; Concentração do transportador: 1 × 1018 × 5 × 1019 cm−3

Orientação Cristalina

(0001) ±0,5° (padrão)

Conductividade térmica

490 W/m·K (típico)

Densidade de defeito

Densidade de microtubos: < 1 cm−2; Densidade de dislocação: < 104 cm−2

Personalização

Formas não normalizadas, perfis de dopagem, metalização posterior

 

 

Substrato SiC Tipo 4H-N Wafer de 10x10mm para Eletrônica de Potência 0Substrato SiC Tipo 4H-N Wafer de 10x10mm para Eletrônica de Potência 1
3Principais vantagens dos substratos de SiC
  • Gestão térmica superiorCom uma condutividade térmica de:490 W/m·K(3 vezes superior ao silício), o substrato permite uma dissipação de calor eficiente, reduzindo as temperaturas de funcionamento do dispositivo e aumentando a longevidade do sistema.

  • Tolerância à alta tensão: uma intensidade de campo de ruptura de2 ̊4 MV/cmA velocidade de deriva de saturação de elétrons (2 × 107 cm/s) beneficia projetos de alta frequência.

  • Robustez mecânica: Dureza de Vickers28 ∼ 32 GPae resistência flexível >400 MPafornecer 5×10 vezes mais vida útil do que materiais convencionais.

  • Estabilidade ambiental: Temperaturas de funcionamento até600°Ce um baixo coeficiente de expansão térmica (4.0×10−6/K) garantir o desempenho em condições extremas.


4Aplicações em Tecnologias Avançadas

Tabela 2: Áreas de aplicação principais de substratos de SiC de 10×10 mm

Área de aplicação

Use Casos

Benefícios

Veículos elétricos

Inversores de transmissão, MOSFETs/diodos SiC

Eficiência do inversor superior a 3·5% e autonomia EV alargada

Infraestrutura 5G

Amplificadores de potência de RF (bandas de onda mm: 24 ∼ 39 GHz)

> 20% de redução do consumo de energia da estação de base

Grades inteligentes

Sistemas HVDC, transformadores de estado sólido

Melhoria da eficiência da transmissão de energia

Automatização industrial

Motores de alta potência (frequência de comutação > 100 kHz)

Tamanho do dispositivo reduzido em 50%

Aeronáutica e Defesa

Sistemas de alimentação por satélite, comandos de motores

Confiabilidade em temperaturas extremas/radiação

Optoeletrónica

LEDs UV, diodos laser

Substrato óptimo devido à ampla distância de banda e estabilidade térmica


5. Opções de personalização
  • Geometria: Formas redondas, retangulares ou definidas pelo utilizador.

  • Doping: Tipo N ou tipo P com concentrações de1015 a 1019 cm−3.

  • Espessura: 100 ‰ 500 μm, com metalização posterior opcional para uma melhor integração.


6Conclusão

O substrato SiC tipo 10×10mm 4H-N combina propriedades avançadas de materiais com flexibilidade no design, tornando-o um facilitador crítico para a próxima geração de eletrônicos em automóveis, comunicação,e sistemas energéticosA sua compatibilidade com aplicações de alta temperatura, alta frequência e alta potência coloca-o como uma pedra angular da inovação em semicondutores.


Tags: #SiC #4H-SiC #PowerElectronics #Semicondutor #Wafer #10x10mm #ThermalManagement

Substrato SiC Tipo 4H-N Wafer de 10x10mm para Eletrônica de Potência 2