| Nome da marca: | ZMSH |
| MOQ: | 50 |
| Tempo de entrega: | 2-4 SEMANAS |
| Condições de pagamento: | T/T |
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1. Introdução Abrangente do Produto
O substrato de Carbeto de Silício (SiC) de 12 polegadas (300 mm) representa a fronteira atual na tecnologia de semicondutores de banda larga (WBG). À medida que a indústria global transita para maior eficiência e maior densidade de potência, esta plataforma cristalina de grande diâmetro fornece a base essencial para eletrônicos de potência e sistemas de RF de próxima geração.
Vantagens Estratégicas Chave:
Ofertas de Grau de Produto:
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Carbeto de Silício 4H-N (Tipo Condutivo)
O politipo 4H-N é uma estrutura cristalina hexagonal dopada com nitrogênio, conhecida por suas propriedades físicas robustas. Com uma banda proibida de aproximadamente 3,26 eV, ele fornece:
Carbeto de Silício 4H-SI (Tipo Semi-isolante)
Nossos substratos SI são caracterizados por resistividade excepcionalmente alta e defeitos cristalinos mínimos. Esses substratos são a plataforma preferida para dispositivos de RF GaN-on-SiC, fornecendo:
Nosso processo de fabricação é verticalmente integrado para garantir o controle total de qualidade, desde a matéria-prima até a pastilha acabada.
| Item | Produção Tipo N | Fictício Tipo N | Produção Tipo SI |
|---|---|---|---|
| Politipo | 4H | 4H | 4H |
| Tipo de Doping | Nitrogênio (Tipo N) | Nitrogênio (Tipo N) | Semi-isolante |
| Diâmetro | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm |
| Espessura (Verde/Trans) | 600/700 ± 100 μm | 600/700 ± 100 μm | 600/700 ± 100 μm |
| Orientação da Superfície | 4,0° em direção a <11-20> | 4,0° em direção a <11-20> | 4,0° em direção a <11-20> |
| Precisão da Orientação | ± 0,5° | ± 0,5° | ± 0,5° |
| Plano Principal | Entalhe / Redondo Completo | Entalhe / Redondo Completo | Entalhe / Redondo Completo |
| Profundidade do Entalhe | 1,0 – 1,5 mm | 1,0 – 1,5 mm | 1,0 – 1,5 mm |
| Planicidade (TTV) | ≤ 10 μm | N/A | ≤ 10 μm |
| Densidade de Microporos (MPD) | ≤ 5 ea/cm² | N/A | ≤ 5 ea/cm² |
| Acabamento da Superfície | Epi-pronto (CMP) | Retificação de Precisão | Epi-pronto (CMP) |
| Processamento de Bordas | Chanfro Arredondado | Sem Chanfro | Chanfro Arredondado |
| Inspeção de Rachaduras | Nenhuma (exclusão de 3 mm) | Nenhuma (exclusão de 3 mm) | Nenhuma (exclusão de 3 mm) |
Utilizamos um protocolo de inspeção em várias etapas para garantir o desempenho consistente em sua linha de produção:
R: Ao fornecer uma área de superfície muito maior, você pode fabricar significativamente mais chips por pastilha. Isso reduz os custos fixos de processamento e mão de obra por chip, tornando seus produtos semicondutores finais mais competitivos no mercado.
R: A orientação de 4° em direção ao <11-20> plano é otimizada para crescimento epitaxial de alta qualidade, ajudando a evitar a formação de politipos indesejados e reduzindo as discordâncias do plano basal (BPD).
R: Sim. Oferecemos marcação a laser personalizada no lado C (face de carbono) de acordo com os padrões SEMI ou requisitos específicos do cliente para garantir a rastreabilidade total do lote.
R: Sim, o Grau Fictício Tipo N compartilha as mesmas propriedades térmicas do Grau de Produção, tornando-o perfeito para testar ciclos térmicos, calibração de fornos e sistemas de manuseio.