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Detalhes dos produtos

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Created with Pixso. Soluções de substrato de carburo de silício (SiC) de 12 polegadas (300 mm) premium

Soluções de substrato de carburo de silício (SiC) de 12 polegadas (300 mm) premium

Nome da marca: ZMSH
MOQ: 50
Tempo de entrega: 2-4 SEMANAS
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
Xangai,China
Polytype:
4h
Tipo de doping:
Tipo N
Diâmetro:
300±0,5mm
Grossura:
Verde: 600 ± 100 μm / Transparente: 700 ± 100 μm
Orientação de superfície:
4° em direção a <11-20> ± 0,5°
Flat primário:
Entalhe / rodada completa
Profundidade do entalhe:
1 – 1,5 mm
Variação da espessura total (TTV):
≤ 10 μm
Densidade de microtubos (MPD):
≤ 5 ea/cm²
Destacar:

Substrato SiC de 300 mm de diâmetro

,

Substrato de carboneto de silício politipo 4H

,

Wafer SiC de 12 polegadas com dopagem tipo N

Descrição do produto
Substratos de Carbeto de Silício 4H-N de Alta Qualidade (12 polegadas/300 mm) para Dispositivos de Alta Potência


Soluções de substrato de carburo de silício (SiC) de 12 polegadas (300 mm) premium 0

1. Introdução Abrangente do Produto

O substrato de Carbeto de Silício (SiC) de 12 polegadas (300 mm) representa a fronteira atual na tecnologia de semicondutores de banda larga (WBG). À medida que a indústria global transita para maior eficiência e maior densidade de potência, esta plataforma cristalina de grande diâmetro fornece a base essencial para eletrônicos de potência e sistemas de RF de próxima geração.

Vantagens Estratégicas Chave:

  • Produção Massiva: Em comparação com as pastilhas convencionais de 150 mm (6 polegadas) e 200 mm (8 polegadas), o formato de 300 mm oferece mais de 2,2x e 1,5x a área de superfície utilizável, respectivamente.
  • Otimização de Custos: Reduz drasticamente o "custo por chip" ao maximizar o número de chips produzidos por ciclo de fabricação único.
  • Compatibilidade Avançada: Totalmente compatível com linhas de fabricação de semicondutores (Fabs) de 300 mm modernas e totalmente automatizadas, melhorando a eficiência operacional geral.

Ofertas de Grau de Produto:

  1. Grau de Produção 4H SiC Tipo N: Projetado para fabricação de dispositivos de potência de grau comercial e de alto rendimento.
  2. Grau Fictício 4H SiC Tipo N: Uma solução econômica para testes mecânicos, calibração de equipamentos e validação de processos térmicos.
  3. Grau de Produção 4H SiC Semi-isolante (SI): Projetado especificamente para aplicações de RF, radar e micro-ondas que exigem extrema resistividade.
2. Características Detalhadas do Material

Soluções de substrato de carburo de silício (SiC) de 12 polegadas (300 mm) premium 1

Carbeto de Silício 4H-N (Tipo Condutivo)

O politipo 4H-N é uma estrutura cristalina hexagonal dopada com nitrogênio, conhecida por suas propriedades físicas robustas. Com uma banda proibida de aproximadamente 3,26 eV, ele fornece:

  • Alto Campo Elétrico de Ruptura: Permite o projeto de dispositivos de alta tensão mais finos e eficientes.
  • Condutividade Térmica Superior: Permite que módulos de alta potência operem com sistemas de resfriamento simplificados.
  • Estabilidade Térmica Extrema: Mantém parâmetros elétricos estáveis, mesmo em ambientes agressivos que excedem 200°C.
  • Baixa Resistência em Condução: Otimizado para estruturas de potência verticais, como MOSFETs e SBDs de SiC.

Carbeto de Silício 4H-SI (Tipo Semi-isolante)

Nossos substratos SI são caracterizados por resistividade excepcionalmente alta e defeitos cristalinos mínimos. Esses substratos são a plataforma preferida para dispositivos de RF GaN-on-SiC, fornecendo:

  • Excelente Isolamento Elétrico: Elimina a condução parasítica do substrato.
  • Integridade do Sinal: Ideal para aplicações de micro-ondas de alta frequência, onde a baixa perda de sinal é crítica.
3. Crescimento de Cristal Avançado e Processo de Fabricação

Nosso processo de fabricação é verticalmente integrado para garantir o controle total de qualidade, desde a matéria-prima até a pastilha acabada.

  • Crescimento por Sublimação (Método PVT): Os cristais de 12 polegadas são cultivados usando o método de Transporte de Vapor Físico (PVT). O pó de SiC de alta pureza é sublimado a temperaturas superiores a 2000°C sob vácuo e gradiente térmico precisamente controlados, recristalizando em um cristal semente de alta qualidade.
  • Corte de Precisão e Perfilamento de Bordas: Após o crescimento, os lingotes de cristal são cortados em pastilhas usando serragem de diamante multi-fio avançada. O processamento de bordas envolve chanfro de precisão para evitar lascas e melhorar a robustez mecânica durante o manuseio.
  • Engenharia de Superfície (CMP): Dependendo da aplicação, empregamos Polimento Mecânico-Químico (CMP) na face Si. Este processo atinge uma superfície "Epi-Ready" com suavidade em escala atômica, removendo todos os danos subsuperficiais para facilitar o crescimento epitaxial de alta qualidade.
4. Especificações Técnicas e Matriz de Tolerância
Item Produção Tipo N Fictício Tipo N Produção Tipo SI
Politipo 4H 4H 4H
Tipo de Doping Nitrogênio (Tipo N) Nitrogênio (Tipo N) Semi-isolante
Diâmetro 300 ± 0,5 mm 300 ± 0,5 mm 300 ± 0,5 mm
Espessura (Verde/Trans) 600/700 ± 100 μm 600/700 ± 100 μm 600/700 ± 100 μm
Orientação da Superfície 4,0° em direção a <11-20> 4,0° em direção a <11-20> 4,0° em direção a <11-20>
Precisão da Orientação ± 0,5° ± 0,5° ± 0,5°
Plano Principal Entalhe / Redondo Completo Entalhe / Redondo Completo Entalhe / Redondo Completo
Profundidade do Entalhe 1,0 – 1,5 mm 1,0 – 1,5 mm 1,0 – 1,5 mm
Planicidade (TTV) ≤ 10 μm N/A ≤ 10 μm
Densidade de Microporos (MPD) ≤ 5 ea/cm² N/A ≤ 5 ea/cm²
Acabamento da Superfície Epi-pronto (CMP) Retificação de Precisão Epi-pronto (CMP)
Processamento de Bordas Chanfro Arredondado Sem Chanfro Chanfro Arredondado
Inspeção de Rachaduras Nenhuma (exclusão de 3 mm) Nenhuma (exclusão de 3 mm) Nenhuma (exclusão de 3 mm)
5. Garantia de Qualidade e Metrologia

Utilizamos um protocolo de inspeção em várias etapas para garantir o desempenho consistente em sua linha de produção:

  1. Metrologia Óptica: Medição automatizada da geometria da superfície para TTV, curvatura e empenamento.
  2. Avaliação Cristalina: Inspeção de luz polarizada para inclusões de politipos e análise de tensão.
  3. Varredura de Defeitos de Superfície: Luz de alta intensidade e espalhamento a laser para detectar arranhões, orifícios e lascas de borda.
  4. Caracterização Elétrica: Mapeamento de resistividade sem contato em toda a zona central de 8 polegadas e 12 polegadas completas.
6. Aplicações Líderes da Indústria
  • Veículos Elétricos (EV): Crítico para inversores de tração, pilhas de carregamento rápido de 800V e carregadores de bordo (OBC).
  • Energia Renovável: Inversores fotovoltaicos de alta eficiência, conversores de energia eólica e sistemas de armazenamento de energia (ESS).
  • Rede Inteligente: Transmissão CC de alta tensão (HVDC) e acionamentos de motores industriais.
  • Telecomunicações: Estações macro 5G/6G, amplificadores de potência de RF e links de satélite.
  • Aeroespacial e Defesa: Fontes de alimentação de alta confiabilidade para ambientes aeroespaciais extremos.
7. Perguntas Frequentes (FAQ)
P1: Como o substrato SiC de 12 polegadas melhora meu ROI?

R: Ao fornecer uma área de superfície muito maior, você pode fabricar significativamente mais chips por pastilha. Isso reduz os custos fixos de processamento e mão de obra por chip, tornando seus produtos semicondutores finais mais competitivos no mercado.

P2: Qual é o benefício da orientação fora do eixo de 4 graus?

R: A orientação de 4° em direção ao <11-20> plano é otimizada para crescimento epitaxial de alta qualidade, ajudando a evitar a formação de politipos indesejados e reduzindo as discordâncias do plano basal (BPD).

P3: Você pode fornecer marcação a laser personalizada para rastreabilidade?

R: Sim. Oferecemos marcação a laser personalizada no lado C (face de carbono) de acordo com os padrões SEMI ou requisitos específicos do cliente para garantir a rastreabilidade total do lote.

P4: O Grau Fictício é adequado para recozimento em alta temperatura?

R: Sim, o Grau Fictício Tipo N compartilha as mesmas propriedades térmicas do Grau de Produção, tornando-o perfeito para testar ciclos térmicos, calibração de fornos e sistemas de manuseio.