| Nome da marca: | ZMSH |
| Número do modelo: | Bolacha sic Epitaxial |
| MOQ: | 25 |
| preço: | by case |
| Tempo de entrega: | 5-8weeks |
| Condições de pagamento: | T/T |
Wafers epitaxiais de SiC de 2 polegadas, 3 polegadas, 4 polegadas e 6 polegadas 4H-N, grau de produção
Perfil da empresa:
Como um fornecedor líder de wafers epitaxiais de SiC (carboneto de silício), a ZMSH é especializada na produção, processamento e distribuição global de wafers epitaxiais condutores e de grau MOS 4H-N de alta qualidade em diâmetros de 2 polegadas (50,8 mm), 3 polegadas (76,2 mm), 4 polegadas (100 mm) e 6 polegadas (150 mm), com capacidades que se estendem até 12 polegadas (300 mm) para as futuras demandas da indústria.
Nosso portfólio de produtos inclui:
· Substratos de SiC condutores tipo 4H-N e 6H-N (para dispositivos de potência)
· Wafers semi-isolantes de alta pureza (HPSI) e padrão SEMI (para aplicações de RF)
· Wafers de SiC tipo 4H/6H-P e 3C-N (para necessidades especializadas de semicondutores)
· Dopagem, espessura e acabamentos de superfície personalizados (CMP, prontos para epi, etc.)
Com tecnologia avançada de crescimento epitaxial CVD, controle de qualidade rigoroso (ISO 9001) e capacidades completas de processamento interno, atendemos às indústrias automotiva, eletrônica de potência, 5G e aeroespacial em todo o mundo.
| Parâmetro | Especificações |
| Estrutura cristalina | 4H-SiC (tipo N) |
| Diâmetro | 2" / 3" / 4" / 6" |
| Espessura do epi | 5-50 µm (personalizado) |
| Concentração de dopagem | 1e15~1e19 cm⁻³ |
| Resistividade | 0,01–100 Ω·cm |
| Rugosidade da superfície | <0,2 nm (Ra) |
| Densidade de deslocamento | <1×10³ cm⁻² |
| TTV (Variação total da espessura) | <5 µm |
| Empenamento | <30 µm |
(Todas as especificações personalizáveis – entre em contato conosco para requisitos específicos do projeto.)
1. Desempenho elétrico superior
2. Excelentes propriedades térmicas
3. Camada epitaxial de alta qualidade
4. Vários graus de wafer disponíveis
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1. Veículos elétricos (EVs) e carregamento rápido
2. Energia renovável e energia industrial
3. Comunicações 5G e RF
4. Aeroespacial e defesa
5. Eletrônicos de consumo e industriais
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1. Fabricação e personalização de ciclo completo
· Produção de substrato de SiC (2" a 12")
· Crescimento epitaxial (CVD) com dopagem controlada (tipo N/P)
· Processamento de wafer (lapidação, polimento, marcação a laser, corte)
2. Testes e certificação
· XRD (cristalinidade), AFM (rugosidade da superfície), efeito Hall (mobilidade do portador)
· Inspeção de defeitos (densidade de poços de ataque, micropipos<1>
3. Suporte à cadeia de suprimentos global
· Prototipagem rápida e atendimento de pedidos em massa
· Consultoria técnica para design de dispositivos SiC
Por que nos escolher?
✔ Integração vertical (substrato → epitaxia → wafer acabado)
✔ Alto rendimento e preços competitivos
✔ Suporte de P&D para dispositivos SiC de última geração
✔ Prazos de entrega rápidos e logística global
(Para fichas técnicas, amostras ou orçamentos – entre em contato hoje mesmo!)
1. P: Quais são as principais diferenças entre os wafers epitaxiais de SiC de 2 polegadas, 4 polegadas e 6 polegadas?
R: As principais diferenças estão na escalabilidade da produção (6" permite maior volume) e no custo por chip (wafers maiores reduzem os custos do dispositivo em ~30%).
2. P: Por que escolher 4H-SiC em vez de silício para dispositivos de potência?
R: 4H-SiC oferece tensão de ruptura 10x maior e condutividade térmica 3x melhor do que o silício, permitindo sistemas de energia menores e mais eficientes.
Tags: #2inch 3inch 4inch 6inch, #Wafers Epitaxiais de SiC, #Carboneto de Silício#4H-N, #Condutivo, #Grau de Produção, #Grau MOS