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Bolacha da safira
Created with Pixso. Substrato de Safira Quadrado Ultra-Grande 310 × 310 × 1 mm para Aplicações em Semicondutores e Aeroespacial

Substrato de Safira Quadrado Ultra-Grande 310 × 310 × 1 mm para Aplicações em Semicondutores e Aeroespacial

Nome da marca: ZMSH
MOQ: 10
Tempo de entrega: 2-4 SEMANAS
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
Xangai,China
Material:
Safira de cristal único (Al₂O₃)
Pureza:
≥ 99,99%
forma:
Quadrado
Dimensões:
310 × 310 mm
Grossura:
1,0 mm
Tolerância à espessura:
± 0,02 mm
Variação da espessura total (TTV):
< 10 μm
Orientação de cristal:
C-Plane (0001) (outros sob consulta)
Descrição do produto

Substrato de Safira Quadrado Ultra-Grande 310 × 310 × 1 mm para Aplicações em Semicondutores e Aeroespaciais

Visão Geral do ProdutoSubstrato de Safira Quadrado Ultra-Grande 310 × 310 × 1 mm para Aplicações em Semicondutores e Aeroespacial 0


O Substrato de Safira Quadrado Ultra-Grande de 310 × 310 × 1 mm representa o limite superior do crescimento atual de cristais de safira sintética e da tecnologia de usinagem de precisão em grandes áreas. Fabricado a partir de óxido de alumínio (Al₂O₃) monocristalino de alta pureza de 99,99%, esta placa de safira oferece planicidade excepcional, estabilidade térmica, resistência química e resistência mecânica em uma área de superfície expansiva.


Ao contrário das pastilhas de safira redondas padrão projetadas para produção direta de semicondutores, este produto é projetado principalmente como um substrato de suporte, placa de base ou painel de safira de grande área. É amplamente utilizado em processamento epitaxial GaN, ambientes de semicondutores de alta temperatura, sistemas ópticos avançados e aplicações aeroespaciais onde a estabilidade dimensional e a durabilidade são críticas.


Principais Aplicações


  • Placas de suporte para pastilhas de semicondutores

    • Epitaxia GaN-on-Sapphire (MOCVD)

    • Manuseio de processos de alta temperatura

  • Janelas ópticas e visores de grande área

  • Janelas de observação aeroespaciais e a vácuo

  • Placas de base para sistemas a laser

  • Substratos de colagem de precisão

  • Plataformas de safira industriais e de pesquisa personalizadas


Especificações Técnicas


Parâmetro Especificação
Material Safira Monocristalina (Al₂O₃)
Pureza ≥ 99,99%
Formato Quadrado
Dimensões 310 × 310 mm
Espessura 1,0 mm
Tolerância de Espessura ± 0,02 mm
Variação Total de Espessura (TTV) < 10 μm
Orientação do Cristal Plano C (0001)(outros sob consulta)
Acabamento da Superfície Polido Dupla Face (DSP)
Rugosidade da Superfície Ra< 0,2 nm
Planicidade λ/10 @ 633 nm
Condição da Borda Cantos Chanfrados ou Arredondados
Qualidade Óptica Grau Óptico
Dureza Mohs 9
Densidade 3,98 g/cm³
Condutividade Térmica ~35 W/m·K @ 25 °C
Temperatura Máxima de Operação > 1600 °C
Resistência Química Excelente (resistente a ácidos e álcalis)


Principais Vantagens


Capacidade de Formato Ultra-Grande

Mantém excelente planicidade e uniformidade de espessura na escala de 310 mm, permitindo desempenho confiável em aplicações de grande área.


Durabilidade Mecânica ExcepcionalSubstrato de Safira Quadrado Ultra-Grande 310 × 310 × 1 mm para Aplicações em Semicondutores e Aeroespacial 1

Com uma dureza Mohs de 9, a superfície de safira resiste a arranhões e desgaste durante o manuseio e processamento de alta carga.


Estabilidade Térmica Superior

Projetado para suportar ciclos repetidos de alta temperatura comumente encontrados em MOCVD e outros processos de crescimento epitaxial.


Qualidade da Superfície de Grau Óptico

O polimento dupla face atinge rugosidade superficial sub-nanométrica, tornando a placa ideal para janelas ópticas e aplicações de colagem de alta resistência.


Resistência Química Excepcional

Oferece durabilidade significativamente maior do que quartzo fundido ou vidro em ambientes de processo corrosivos e agressivos.


Fabricação e Controle de Qualidade


  • Crescimento de boule de safira em larga escala

  • Corte de precisão e processamento de alívio de tensão

  • Polimento dupla face (DSP)

  • Inspeção de planicidade interferométrica de superfície total

  • Inspeção visual e dimensional de 100% antes do envio


FAQ


P1: Este produto é uma pastilha de safira padrão?
Não. Este produto é classificado como um substrato de safira ultra-grande ou placa de suporte, não uma pastilha de semicondutor padrão. Ele é projetado para aplicações de suporte, ópticas ou estruturais.


P2: Você pode fabricar tamanhos maiores que 310 mm?
Nossa capacidade atual para substratos de safira quadrados varia de 250 mm a 310 mm por lado, dependendo da orientação e espessura.


P3: É adequado para crescimento epitaxial GaN?
Sim. Este substrato de safira é amplamente utilizado como placa de suporte para processos epitaxiais GaN-on-Sapphire, especialmente em sistemas MOCVD de alto rendimento.


P4: Como a planicidade é garantida em uma superfície tão grande?
Usamos equipamentos de polimento dupla face de grande formato e verificamos cada placa com interferometria a laser para garantir a planicidade de λ/10 a 633 nm.


P5: Como o substrato é embalado para envio?
Cada placa é embalada em uma embalagem a vácuo personalizada, absorvente de choque e de alta limpeza, projetada para evitar danos durante o transporte internacional.