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Detalhes dos produtos

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Created with Pixso. Bolacha de Carbeto de Silício (SiC) Monocristalino de 12 polegadas 300mm 4H-N 6H-N para Dispositivos de Potência e LED

Bolacha de Carbeto de Silício (SiC) Monocristalino de 12 polegadas 300mm 4H-N 6H-N para Dispositivos de Potência e LED

Nome da marca: ZMSH
MOQ: 10
Tempo de entrega: 2-4 SEMANAS
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
XANGAI, CHINA
Estrutura cristalina:
Hexagonal
Entrelace constante:
a = 3,08 Å, c = 10,05 Å; a = 3,08 Å, c = 15,12 Å
Gap de banda:
3,23 eV; 3,02 eV
Dureza (Mohs):
9,2
Coeficiente de expansão térmica:
4~5×10⁻⁶/K
Constante dielétrica:
~9,66
Orientação:
<0001>, 4° fora do eixo
Polimento:
Polido unilateral ou dupla face
Rugosidade Superficial:
Ra ≤ 5Å
Destacar:

Bolacha de SiC de 12 polegadas para dispositivos de potência

,

Substrato de carboneto de silício de 300 mm para LED

,

Bolacha de SiC de cristal único 4H-N 6H-N

Descrição do produto

Wafer de carburo de silício de cristal único de 12 polegadas de 300 mm 4H 6H SiC para dispositivos de energia e LED


Resumo do produto:


A ZMSH fornece wafers de carburo de silício de cristal único (SiC) de alta qualidade de 12 polegadas (300 mm), cultivadas usando o método de transporte de vapor físico (PVT).O carburo de silício é um semicondutor de banda larga com excelentes propriedades elétricas e térmicas, incluindo alta condutividade térmica, alta tensão de ruptura, alta mobilidade de elétrons e alta velocidade de deriva saturada, tornando-o ideal para eletrônicos de potência avançados, MOSFETs de alta tensão,Diodos de Schottky, IGBTs e dispositivos optoeletrônicos baseados em GaN.


Bolacha de Carbeto de Silício (SiC) Monocristalino de 12 polegadas 300mm 4H-N 6H-N para Dispositivos de Potência e LED 0Bolacha de Carbeto de Silício (SiC) Monocristalino de 12 polegadas 300mm 4H-N 6H-N para Dispositivos de Potência e LED 1


As placas de SiC de 12 polegadas da ZMSH são otimizadas para baixa densidade de deslocamento do plano basal (BPD), permitindo desempenho e confiabilidade superiores do dispositivo.de alta temperatura, e aplicações de alta frequência em ambientes industriais e de investigação.


Características fundamentais


Imóveis 4H-SiC 6H-SiC
Estrutura cristalina Hexagonal Hexagonal
Constante de grelha a=3,08 Å, c=10,05 Å a=3,08 Å, c=15,12 Å
Espaço de banda 3.23 eV 30,02 eV
Dureza (Mohs) 9.2 9.2
Conductividade térmica (tipo N, 0,02 Ω·cm) a~4,2 W/cm·K, c~3,7 W/cm·K a~4,6 W/cm·K, c~3,2 W/cm·K
Coeficiente de expansão térmica 4~5×10−6/K 4~5×10−6/K
Constante dielétrica - Nove.66 - Nove.66
Resistividade 0.015~0.028 Ω·cm (tipo N) > 1×105 Ω·cm (Semi-isolação)
Orientação <0001>, 4° fora do eixo <0001>, 4° fora do eixo
Poluição de peso superior a 200 g/m2, mas não superior a 300 g/m2 de peso superior a 200 g/m2, mas não superior a 300 g/m2
Superfície rugosa Ra ≤ 5Å Ra ≤ 5Å
TTV ≤ 15 μm ≤ 15 μm
Arco/coroa ≤ 80 μm ≤ 80 μm
Espessura 0.35 ∼1,0 mm (customizável) 0.35 ∼1,0 mm (customizável)
Zona monocristalina ≥ 290 mm ≥ 290 mm
EPD (Densidade de fosso de gravação) ≤ 1/cm2 ≤ 1/cm2
Chipping ≤ 2 mm ≤ 2 mm


Aplicações


1Eletrónica de Potência:

  • MOSFETs SiC, diodos PiN, diodos Schottky (SBD), diodos JBS, IGBTs e SiC BJTs.

  • Rectificadores de alta tensão (3kV~12kV) e módulos de potência de alta eficiência.

  • Permite sistemas eletrônicos de potência menores, mais leves e mais eficientes em comparação com dispositivos baseados em silício.


2. Dispositivos optoelectrónicos:

  • LEDs e diodos a laser baseados em GaN.

  • A excelente correspondência da rede com as camadas epitaxiais de GaN garante alta eficiência de extração de luz e maior vida útil do dispositivo.

  • A condutividade térmica superior (10 × safira) permite uma melhor dissipação de calor em LEDs de alta potência.


3Investigação e dispositivos avançados:

  • Dispositivos eletrónicos de alta frequência e alta temperatura.

  • Material para estudos experimentais sobre redução da DPL, controle de deslocações e dispositivos SiC de próxima geração.


Vantagens


  1. Baixa Densidade BPD:

    • O crescimento otimizado do PVT, a ligação de sementes e os processos de resfriamento reduzem a densidade de deslocamento do plano basal, melhorando a confiabilidade do dispositivo.

    • Os resultados experimentais mostram que as densidades de BPD podem ser reduzidas abaixo de 1000 cm−2 em wafers de grande diâmetro.

  2. Alto desempenho térmico e elétrico:

    • A elevada condutividade térmica e as propriedades dielétricas permitem uma efetiva difusão do calor e uma operação estável sob alta tensão.

    • A alta mobilidade eletrônica e a ampla distância de banda garantem baixas perdas de energia e desempenho superior em altas temperaturas.

  3. Grande Wafer de 12 polegadas:

    • Suporta módulos de energia de última geração e substratos LED.

    • Espessura, orientação e resistividade personalizáveis para requisitos específicos do dispositivo.

  4. Superfície e Polido de Alta Qualidade:

    • Opções polidas de lado único ou duplo com rugosidade superficial ultra-baixa (Ra ≤ 5Å).

    • Minimiza defeitos e maximiza a uniformidade do crescimento epitaxial.

  5. Embalagens de salas limpas:

    • Cada bolacha embalada individualmente num ambiente limpo de 100 graus para evitar a contaminação.


Compromisso ZMSH


A ZMSH dedica-se a fornecer wafers de SiC de 12 polegadas de alto desempenho com densidade de deslocação controlada e alta reprodutibilidade.e investigação de semicondutores de próxima geraçãoApoiamos especificações personalizadas para atender às suas necessidades de aplicação industrial ou de pesquisa.


Perguntas frequentes


P1: Qual é a densidade típica de luxação do plano basal (BPD) de wafers ZMSH de SiC de 12 polegadas?
R1: Nossas bolinhas de 4H-SiC e 6H-SiC de 12 polegadas são cultivadas usando processos PVT otimizados com taxas de resfriamento controladas, ligação de sementes e seleção de cristais de grafite.Isto garante que a densidade de BPD pode ser reduzida abaixo de 1000 cm−2, o que melhora significativamente a fiabilidade do dispositivo em aplicações de alta potência e alta tensão.


Q2: A espessura, orientação ou resistividade da bolacha pode ser personalizada?
R2: Sim. A ZMSH suporta especificações de wafer totalmente personalizáveis, incluindo espessura (0,35 ∼1,0 mm), orientação fora do eixo (<0001 ∼4° ou outros ângulos) e resistividade (tipo N 0,015 ∼0,0 mm).028 Ω·cm ou semi-isolantes > 1 × 105 Ω·cm)Esta flexibilidade permite que os wafers satisfaçam os requisitos específicos dos dispositivos de potência, LEDs ou pesquisa experimental.


P3: Como as wafers ZMSH de SiC de 12 polegadas beneficiam as aplicações de LEDs e diodos a laser baseados em GaN?
A3: Os substratos de SiC fornecem excelente correspondência de rede e compatibilidade térmica com as camadas epitaciais de GaN. Em comparação com o safiro, o SiC oferece maior condutividade térmica,capacidade de condução do substrato para estruturas de dispositivos verticais, e sem camada de difusão de corrente, resultando em maior eficiência de extração de luz, melhor dissipação de calor e maior vida útil do dispositivo.