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Created with Pixso. Substrato de SiC 4H-SEMI de 6 polegadas para Óculos AR e Dispositivos RF 5G

Substrato de SiC 4H-SEMI de 6 polegadas para Óculos AR e Dispositivos RF 5G

Nome da marca: ZMSH
Número do modelo: 6 polegadas 4H-SEMI sic
MOQ: 25pc
preço: by case
Tempo de entrega: em 30 dias
Condições de pagamento: T/T.
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
CHINA
Certificação:
rohs
Tamanho:
6 polegadas
Tipo:
4H-SEMI
Espessura a (tropel):
500,0 µm ± 25,0 µm
Índice de Refração a:
> 2.6 @550nm
Haze a:
≤0,3%
Densidade do microtubo:
≤0,5/cm²
Orientação de entalhe:
<1-100> ± 2 °
Detalhes da embalagem:
Caixa de plástico personalizada
Habilidade da fonte:
1000pc/mês
Destacar:

Substrato de SiC de 6 polegadas para óculos AR

,

Substrato de SiC 4H-SEMI para 5G

,

Substrato de SiC com garantia

Descrição do produto

​​Visão Geral do Substrato SiC 4H-SEMI de 6 Polegadas​​

 
 

 

Substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas para Óculos de RA

 
 
 

O substrato de carboneto de silício (4H-SiC) 4H-SEMI de 6 polegadas é um material semicondutor de banda larga baseado na estrutura cristalina hexagonal (polimorfo 4H), projetado para propriedades ​​semi-isolantes​​ (resistividade ≥1×10⁷ Ω·cm). Fabricado via ​​transporte físico de vapor (PVT)​​ ou ​​epitaxia de fase líquida (LPE)​​, ele oferece ​​banda proibida larga de 3,26 eV​​, ​​campo de ruptura de 3,5 MV/cm​​, ​​condutividade térmica de 4,9 W/cm·K​​ e ​​características de baixa perda de alta frequência​​, tornando-o ideal para aplicações em ambientes extremos, como comunicações 5G, dispositivos de RF e eletrônicos aeroespaciais. Comparado aos materiais à base de silício, oferece ​​10× maior resistência ao campo de ruptura​​ e ​​3× condutividade térmica superior​​, permitindo a operação estável entre -200°C e 1.600°C, e servindo como um substrato ideal para dispositivos de alta tensão, alta frequência e alta potência.

 

 


​​

​​​​Principais Características do Substrato SiC 4H-SEMI de 6 Polegadas​​

 
Substrato de SiC 4H-SEMI de 6 polegadas para Óculos AR e Dispositivos RF 5G 0

1. Desempenho Elétrico​​

  • ​​Banda Proibida Larga (3,26 eV)​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas suporta tensões superiores a 10 kV, adequado para cenários de alta tensão, como redes inteligentes e inversores de veículos elétricos.

  • ​​Alto Campo de Ruptura (3,5 MV/cm)​​: 10× maior que o silício, minimizando a corrente de fuga e aumentando a confiabilidade.

  • ​​Alta Mobilidade de Elétrons (900 cm²/V·s)​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas otimiza a velocidade de comutação em dispositivos de RF, reduzindo as perdas de condução.

 

 

​​2. Propriedades Térmicas e Mecânicas​​

  • ​​Alta Condutividade Térmica (4,9 W/cm·K)​​: 3× melhor dissipação de calor do que o silício, suportando temperaturas extremas (-200°C a 1.600°C).

  • ​​Alta Dureza (Mohs 9.2)​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas resiste ao desgaste, compatível com processos de precisão como CMP e ataque a seco.

 

 

​​3. Compatibilidade de Processo​​

  • ​​Baixa Densidade de Micropipos (<1 cm⁻²)​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas minimiza os defeitos da rede para uma qualidade superior da camada epitaxial.

  • ​​Planicidade da Superfície (Ra <0,2 nm)​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas garante a compatibilidade com litografia e deposição de filme fino.

 

 


 

​​Aplicações Principais do Substrato SiC 4H-SEMI de 6 Polegadas​​

 

Substrato de SiC 4H-SEMI de 6 polegadas para Óculos AR e Dispositivos RF 5G 1

 

1. Comunicações 5G e Dispositivos de RF​​

  • ​​Módulos de RF de Ondas Milimétricas​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas permite dispositivos de RF GaN-on-4H-SiC para bandas de 28 GHz+, melhorando a eficiência do sinal.
  • ​​Filtros de Baixa Perda​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas reduz a atenuação do sinal, aprimorando a sensibilidade do radar e da comunicação.

​​

 

2. Veículos Elétricos (EVs)​​

  • ​​Inversores de Alta Frequência​​: Compatível com plataformas de carregamento rápido de 800V, reduzindo a perda de energia em >40%.
  • ​​Power MOSFETs​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas corta as perdas de condução em 80–90%, estendendo a autonomia.

​​

 

3. Aeroespacial e Defesa​​

  • ​​Dispositivos Resistentes à Radiação​​: Substitui componentes de silício, prolongando a vida útil dos sistemas de satélites e foguetes (>100 Mrad de tolerância).
  • ​​Radares de Alta Potência​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas aproveita as propriedades de baixa perda para uma precisão de detecção aprimorada.

​​

 

4. Sistemas Industriais e de Energia​​

  • ​​Inversores Solares​​: Aumenta a eficiência de conversão em 1–3%, reduzindo o volume em 40–60% para ambientes agressivos.
  • ​​Redes Inteligentes​​: O substrato SiC 4H-SEMI de 6 polegadas suporta transmissão CC de alta tensão, minimizando a dissipação de calor e as necessidades de resfriamento.

 

 


 

​​Substrato SiC 4H-SEMI de 6 Polegadas Parâmetro Técnico

 

 

​​Parâmetros do Cristal​​
Tipo 4H
Índice de refração a >2.6 @550nm
Absorvância a ≤0.5% @450-650nm
Transmitância MP a
(sem condições anti-reflexo)
≥66.5%
Névoa a ≤0.3%
Polimorfismo a Nenhum permitido
Densidade de microtúbulos ≤0.5/cm²
Densidade de vazios hexagonais Nenhum permitido
Grão de impureza em hexagonal a Nenhum permitido
Inclusão MP a Nenhum permitido
​​Parâmetros mecânicos​​
Diâmetro (polegadas) 6
Orientação da superfície (0001)±0.3°
Borda de referência do entalhe Entalhe
Orientação do entalhe <1-100>±2°
Ângulo do entalhe 90±5°/1°
Profundidade do entalhe 1 mm ±0.25 mm (-0 mm)
Tratamento de superfície Lado C-Si (CMP)
Borda da pastilha Chanfro
Rugosidade da superfície (AFM) Ra≤0.2 nm
(área de varredura de 5×5 µm)
Espessura a (Tropel) 500.0 µm ±25.0 µm
LTV (Tropel) ≤2 µm
TTV a (Tropel) ≤3 µm
Empenamento a (Tropel) ≤5 µm
Empenamento a (Tropel) <15 µm

 

 


 

Recomendamos outro tipo de SiC

 

 

Q1: Qual é a principal diferença entre os substratos 4H-SiC do tipo N e semi-isolantes?​​

​​A1:​​Os substratos do tipo N (dopados com nitrogênio) são usados para dispositivos de potência (por exemplo, MOSFETs, diodos) que exigem alta mobilidade de elétrons, enquanto os substratos semi-isolantes (alta resistividade) são ideais para dispositivos de RF (por exemplo, GaN-on-SiC) para minimizar a capacitância parasitária.

 

 

Q2: Quais são os principais desafios técnicos na fabricação de substratos 4H-SEMI SiC de 6 polegadas?​​

​​A2:​​ Os principais desafios incluem reduzir a densidade de micropipos para <0,5 cm⁻², controlar os defeitos de deslocamento e melhorar a uniformidade da resistividade, reduzindo os custos de produção para acelerar a adoção em massa na eletrônica de potência.

 

 

 

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