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4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas 4H-SiCOI Wafers SiC composto em substratos isolantes

Detalhes do produto

Place of Origin: CHINA

Marca: ZMSH

Certificação: rohs

Model Number: SiCOI Wafers

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Preço: by case

Delivery Time: 2-4weeks

Payment Terms: T/T

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Wafers de 4H-SiCOI de 8 polegadas

,

Wafers de 4 polegadas de 4H-SiCOI

,

Wafers de 4H-SiCOI de 6 polegadas

Size:
4inch/6inch/8inch
Surface Roughness:
Ra<0.5nm
Fracture Toughness:
3.5 MPa·m¹/²
CTE (4H-SiC):
4.2×10⁻⁶/K
Resistivity (SI):
>1×10⁶ Ω·cm
Application:
Power electronics, radio frequency and 5G communication
Size:
4inch/6inch/8inch
Surface Roughness:
Ra<0.5nm
Fracture Toughness:
3.5 MPa·m¹/²
CTE (4H-SiC):
4.2×10⁻⁶/K
Resistivity (SI):
>1×10⁶ Ω·cm
Application:
Power electronics, radio frequency and 5G communication
4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas 4H-SiCOI Wafers SiC composto em substratos isolantes

 

Resumo de Bolachas SiCOI

 

 

 

Bolachas 4 polegadas, 6 polegadas e 8 polegadas 4H-SiCOI Substratos compósitos de SiC em isolante

 

As bolachas SICOI (Carboneto de Silício em Isolante) representam uma tecnologia avançada de substrato compósito fabricada através dos processos Smart Cut™ ou Bonding & Thinning. A ZMSH fornece bolachas 4-6 polegadas 4H-SICOI, integrando filmes finos de SiC de alta qualidade com camadas isolantes (SiO₂/AlN) em substratos de silício ou SiC, através de ligação hidrofílica ou técnicas de ligação ativadas por plasma. Processo Smart Cut™: Utiliza implantação de íons de hidrogênio, ligação a baixa temperatura e exfoliação de precisão para obter camadas de SiC ultrafinas (50nm-20μm) com uniformidade de espessura de ±20nm, ideal para dispositivos de alta frequência e baixa perda. Processo Grinding+CMP: Adequado para requisitos de filmes mais espessos (200nm a espessuras personalizadas) com uniformidade de ±100nm, oferecendo eficiência de custo para aplicações de eletrônica de potência. A ZMSH fornece filmes de SiC condutores ou semi-isolantes personalizáveis, com opções de otimização de recozimento por implantação iônica ou afinamento/polimento direto para atender a diversos requisitos de desempenho e custo.

 

 


 

Principais características de Bolachas SiCOI

 

 

Componente Propriedade Especificação Padrão de medição
Filme 4H-SiC Estrutura cristalina 4H-SiC monocristalino ASTM F2094
Densidade de defeitos <10³ cm⁻² (discordâncias de rosca)  
Rugosidade da superfície (Ra) <0,5 nm Medição AFM
Resistividade semi-isolante >10⁶ Ω·cm SEMI MF397
Faixa de dopagem tipo N 10¹⁶-10¹⁹ cm⁻³  
Condutividade térmica >300 W/(m·K)  
Camada SiO₂ Método de formação Oxidação térmica  
Constante dielétrica (ε) 3.9 JESD22-A109
Resistência à ruptura >10 MV/cm  
Densidade de armadilha de interface <10¹¹ cm⁻²eV⁻¹  
Substrato de Si Expansão térmica (CTE) ~3,5×10⁻⁶/°C  
Empenamento da bolacha (8 polegadas) <50 μm SEMI M1
Estabilidade de temperatura >300°C  
Desempenho integrado Suporte de tamanho da bolacha Formatos de 4-8 polegadas  

 

 


 

Principais aplicações de Bolachas SiCOI

 

 

4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas 4H-SiCOI Wafers SiC composto em substratos isolantes 0

1. Eletrônica de potência

 

Inversores EV: MOSFETs de SiC em substratos SICOI operam a 1200V com 30% menos perdas de comutação, compatíveis com sistemas de carregamento rápido de 800V.

Acionamentos de motores industriais: Bolachas SICOI com camadas isolantes de AlN melhoram a dissipação de calor em 50%, suportando embalagens de módulos >10kW.

 

 

2. Comunicações RF e 5G

 

Amplificadores de potência mmWave: GaN HEMTs em SICOI semi-isolante atingem 8W/mm de saída a 28GHz com >65% de eficiência.

Antenas phased array: Baixa perda dielétrica (tanδ<0,001) minimiza a atenuação do sinal para comunicações por satélite.

 

 

3. Computação e sensoriamento quântico

 

Portadores de qubit de spin: Filmes de SiC ultrafinos (<100nm) fornecem ambientes de baixo ruído, estendendo os tempos de coerência além de 1ms.

Sensores MEMS de alta temperatura: Operação estável a 300°C para monitoramento de motores aeroespaciais.

 

 

4. Eletrônicos de consumo

 

CIs de carregamento rápido: Dispositivos GaN baseados em SICOI permitem carregamento >200W com uma pegada 40% menor.

 

 


 

Serviços da ZMSH

 

 

Como um fornecedor líder de substratos de semicondutores de banda larga, oferecemos suporte técnico completo, desde P&D até produção em massa:

· Desenvolvimento personalizado: Otimize a espessura do filme de SiC (nan escala a mícrons), dopagem (tipo N/P) e camadas isolantes (SiO₂/AlN/Si₃N₄) por requisitos do dispositivo.

· Consulta de processo: Recomende soluções Smart Cut™ (alta precisão) ou Grinding+CMP (custo-efetivo) com dados comparativos.

· Testes no nível da bolacha: Inclui análise do estado da interface, mapeamento da resistência térmica e validação da confiabilidade de alta tensão.

 

 

 

4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas 4H-SiCOI Wafers SiC composto em substratos isolantes 14 polegadas 6 polegadas 8 polegadas 4H-SiCOI Wafers SiC composto em substratos isolantes 2

 

 


 

Perguntas e Respostas​

 

 

1. P: O que é uma bolacha SICOI?
     R: A bolacha SICOI (Carboneto de Silício em Isolante) é um substrato compósito avançado que integra um filme 4H-SiC monocristalino com uma camada isolante de SiO₂ em uma base de silício/safira, permitindo dispositivos de alta potência e RF com desempenho térmico/elétrico superior.

 

 

2. P: Como o SICOI se compara ao SOI?
     R: O SICOI oferece 5x maior condutividade térmica (>300W/m·K) e 3x maior tensão de ruptura (>8MV/cm) do que o SOI, tornando-o ideal para eletrônicos de potência de 800V+ e aplicações mmWave 5G.

 

 


Tag: #4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas, #Personalizado, #Bolachas 4H-SiCOI, #Substratos compósitos de SiC em isolante, #SiC, #SiO2, #Si