Detalhes do produto
Place of Origin: CHINA
Marca: ZMSH
Certificação: rohs
Model Number: SiCOI Wafers
Termos de pagamento e envio
Preço: by case
Delivery Time: 2-4weeks
Payment Terms: T/T
Size: |
4inch/6inch/8inch |
Surface Roughness: |
Ra<0.5nm |
Fracture Toughness: |
3.5 MPa·m¹/² |
CTE (4H-SiC): |
4.2×10⁻⁶/K |
Resistivity (SI): |
>1×10⁶ Ω·cm |
Application: |
Power electronics, radio frequency and 5G communication |
Size: |
4inch/6inch/8inch |
Surface Roughness: |
Ra<0.5nm |
Fracture Toughness: |
3.5 MPa·m¹/² |
CTE (4H-SiC): |
4.2×10⁻⁶/K |
Resistivity (SI): |
>1×10⁶ Ω·cm |
Application: |
Power electronics, radio frequency and 5G communication |
Resumo de Bolachas SiCOI
As bolachas SICOI (Carboneto de Silício em Isolante) representam uma tecnologia avançada de substrato compósito fabricada através dos processos Smart Cut™ ou Bonding & Thinning. A ZMSH fornece bolachas 4-6 polegadas 4H-SICOI, integrando filmes finos de SiC de alta qualidade com camadas isolantes (SiO₂/AlN) em substratos de silício ou SiC, através de ligação hidrofílica ou técnicas de ligação ativadas por plasma. Processo Smart Cut™: Utiliza implantação de íons de hidrogênio, ligação a baixa temperatura e exfoliação de precisão para obter camadas de SiC ultrafinas (50nm-20μm) com uniformidade de espessura de ±20nm, ideal para dispositivos de alta frequência e baixa perda. Processo Grinding+CMP: Adequado para requisitos de filmes mais espessos (200nm a espessuras personalizadas) com uniformidade de ±100nm, oferecendo eficiência de custo para aplicações de eletrônica de potência. A ZMSH fornece filmes de SiC condutores ou semi-isolantes personalizáveis, com opções de otimização de recozimento por implantação iônica ou afinamento/polimento direto para atender a diversos requisitos de desempenho e custo.
Componente | Propriedade | Especificação | Padrão de medição |
Filme 4H-SiC | Estrutura cristalina | 4H-SiC monocristalino | ASTM F2094 |
Densidade de defeitos | <10³ cm⁻² (discordâncias de rosca) | ||
Rugosidade da superfície (Ra) | <0,5 nm | Medição AFM | |
Resistividade semi-isolante | >10⁶ Ω·cm | SEMI MF397 | |
Faixa de dopagem tipo N | 10¹⁶-10¹⁹ cm⁻³ | ||
Condutividade térmica | >300 W/(m·K) | ||
Camada SiO₂ | Método de formação | Oxidação térmica | |
Constante dielétrica (ε) | 3.9 | JESD22-A109 | |
Resistência à ruptura | >10 MV/cm | ||
Densidade de armadilha de interface | <10¹¹ cm⁻²eV⁻¹ | ||
Substrato de Si | Expansão térmica (CTE) | ~3,5×10⁻⁶/°C | |
Empenamento da bolacha (8 polegadas) | <50 μm | SEMI M1 | |
Estabilidade de temperatura | >300°C | ||
Desempenho integrado | Suporte de tamanho da bolacha | Formatos de 4-8 polegadas |
1. Eletrônica de potência
Inversores EV: MOSFETs de SiC em substratos SICOI operam a 1200V com 30% menos perdas de comutação, compatíveis com sistemas de carregamento rápido de 800V.
Acionamentos de motores industriais: Bolachas SICOI com camadas isolantes de AlN melhoram a dissipação de calor em 50%, suportando embalagens de módulos >10kW.
2. Comunicações RF e 5G
Amplificadores de potência mmWave: GaN HEMTs em SICOI semi-isolante atingem 8W/mm de saída a 28GHz com >65% de eficiência.
Antenas phased array: Baixa perda dielétrica (tanδ<0,001) minimiza a atenuação do sinal para comunicações por satélite.
3. Computação e sensoriamento quântico
Portadores de qubit de spin: Filmes de SiC ultrafinos (<100nm) fornecem ambientes de baixo ruído, estendendo os tempos de coerência além de 1ms.
Sensores MEMS de alta temperatura: Operação estável a 300°C para monitoramento de motores aeroespaciais.
4. Eletrônicos de consumo
CIs de carregamento rápido: Dispositivos GaN baseados em SICOI permitem carregamento >200W com uma pegada 40% menor.
Como um fornecedor líder de substratos de semicondutores de banda larga, oferecemos suporte técnico completo, desde P&D até produção em massa:
· Desenvolvimento personalizado: Otimize a espessura do filme de SiC (nan escala a mícrons), dopagem (tipo N/P) e camadas isolantes (SiO₂/AlN/Si₃N₄) por requisitos do dispositivo.
· Consulta de processo: Recomende soluções Smart Cut™ (alta precisão) ou Grinding+CMP (custo-efetivo) com dados comparativos.
· Testes no nível da bolacha: Inclui análise do estado da interface, mapeamento da resistência térmica e validação da confiabilidade de alta tensão.
1. P: O que é uma bolacha SICOI?
R: A bolacha SICOI (Carboneto de Silício em Isolante) é um substrato compósito avançado que integra um filme 4H-SiC monocristalino com uma camada isolante de SiO₂ em uma base de silício/safira, permitindo dispositivos de alta potência e RF com desempenho térmico/elétrico superior.
2. P: Como o SICOI se compara ao SOI?
R: O SICOI oferece 5x maior condutividade térmica (>300W/m·K) e 3x maior tensão de ruptura (>8MV/cm) do que o SOI, tornando-o ideal para eletrônicos de potência de 800V+ e aplicações mmWave 5G.
Tag: #4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas, #Personalizado, #Bolachas 4H-SiCOI, #Substratos compósitos de SiC em isolante, #SiC, #SiO2, #Si