| Nome da marca: | ZMSH |
| Número do modelo: | Bolacha SiC HPSI |
| MOQ: | 25 |
| Preço: | Fluctuates with market |
| Tempo de entrega: | 2-4 semanas |
| Condições de pagamento: | T/T |
As wafers de carburo de silício HPSI (High Purity Semi-Insulating) são substratos fundamentais críticos para dispositivos de RF GaN de alta frequência e semicondutores avançados de terceira geração.Com a rápida expansão da comunicação 5G, mercados de radar de ondas milimétricas e de electrónica aeroespacial, o mercado mundial de substratos de SiC deverá exceder 2 mil milhões de USD até 2030,desempenhar um papel estratégico insubstituível na comunicação sem fio de próxima geração e sistemas eletrónicos de alta potência.![]()
A montante: pó de carburo de silício de alta pureza (acima do grau 6N), fornos de crescimento de cristais de transporte físico de vapor (PVT) e componentes de campo térmico de grafite de alta pureza.Os equipamentos de crescimento de cristais de alta qualidade e as matérias-primas de ultra-alta pureza continuam a depender parcialmente das importações na cadeia industrial. Meio fluxo: crescimento de cristal único de SiC → moldagem de lingotes → corte de vários fios → lapagem → polimento químico mecânico (CMP) → tratamento de superfície pronto para epitaxia.Este segmento apresenta barreiras técnicas extremamente elevadas, com rendimento de cristal e controlo de defeitos como indicadores competitivos essenciais.chips de radar de ondas milimétricas, componentes electrónicos aeroespaciais, dispositivos de microondas de alta frequência e protótipos de dispositivos de energia de alta tensão.A procura a jusante continua a crescer, impulsionada pela modernização das tecnologias de comunicação e pelas novas indústrias da energia e da defesa.
Os Wafers 4H HPSI SiC são substratos de carburo de silício monocristalino semi-isolantes de alta pureza com orientação cristalina <0001>,Produzido principalmente através do método de crescimento de cristais Physical Vapor Transport (PVT)A propriedade de semi-isolação é obtida através de controlo de pureza ultra-alta e tecnologia de dopagem de vanádio, alcançando uma resistência extremamente elevada.A superfície preparada para epi é submetida a polimento CMP de precisão para obter suavidade a nível atômico, satisfazendo os rigorosos requisitos de epitaxia de GaN do MOCVD.
As nossas placas HPSI SiC são fabricadas a partir de carburo de silício de cristal único de alta pureza de grau 6N (4H-SiC), especialmente desenvolvido para RF de alta frequência e ambientes de fabricação de semicondutores de ponta.O material apresenta uma excelente condutividade térmica, ultra-alta resistividade eléctrica, excelente resistência à corrosão química e superior resistência mecânica, mantendo um desempenho eléctrico e físico estável sob epitaxia a alta temperatura,operação de alta potência e condições adversas de processamento de plasma.
Os substratos de SiC estão disponíveis em politipos convencionais e orientações cristalinas para corresponder a diferentes requisitos dos dispositivos de semicondutores.O 4H-SiC é a escolha dominante para dispositivos de RF e potência com mobilidade eletrônica equilibrada e estabilidade do materialAs opções 6H-SiC atendem a cenários especiais de dispositivos optoeletrônicos e de alta temperatura.4° fora do eixo) estão disponíveis para otimizar a qualidade da camada epitaxial e o rendimento do dispositivo.
Disponível em graus SSP (Single Side Polished) e DSP (Double Side Polished) para se adequar a diferentes cenários de processo.com TTV estritamente controladaA superfície lisa e livre de defeitos a nível atómico cumpre perfeitamente os padrões de crescimento de epitaxia de GaN MOCVD,assegurando a deposição uniforme da camada epitaxial e a alta consistência do desempenho de RF do dispositivo.![]()
Os substratos HPSI SiC fornecem uma resistência ultra-alta (≥ 1 × 1010 Ω · cm) e uma perda dielétrica ultra-baixa, eliminando efetivamente a transmissão de sinal e a fuga para dispositivos de RF de alta frequência e alta potência.Com condutividade térmica 3×4 vezes superior à do safiro, eles oferecem excelente capacidade de dissipação de calor, melhorando significativamente a densidade de potência do dispositivo e a confiabilidade a longo prazo sob operação de alta carga.
As especificações do substrato podem ser totalmente personalizadas de acordo com os requisitos técnicos do cliente, incluindo:
Além de wafers de SiC nus padrão, fornecemos processamento funcional personalizado de processo completo para suportar aplicações diversificadas de clientes.
Apoiamos o desenvolvimento e produção personalizados de wafer SiC com base em desenhos do cliente, amostras de referência, parâmetros de processo de equipamento,especificações de componentes existentes e exigências de engenharia reversaTodos os produtos estão em conformidade com as normas RoHS e REACH, proporcionando soluções de substrato estáveis e de alto rendimento para a modernização de processos de semicondutores, equipamento de correspondência e projetos de substituição localizados.
As placas HPSI SiC são substratos fundamentais de núcleo amplamente adotados nas indústrias de comunicação por RF e de semicondutores avançados, aplicáveis aos seguintes dispositivos e processos de fabricação:
Os substratos HPSI SiC foram produzidos em massa comercialmente para cenários de RF convencionais e semicondutores de ponta, com consistência estável de lote,Baixa taxa de defeitos e excelente compatibilidade de processos.
| Ponto | Especificações |
|---|---|
| Produto | HPSI Wafer de carburo de silício / Substrato de SiC |
| Materiais | Cristais únicos de 4H-SiC de alta pureza semi-isolantes |
| Método de crescimento | Transportes físicos de vapor (PVT) |
| Estrutura cristalina | Estrutura hexagonal de Wurtzita |
| Diâmetro | 2 " / 4 " / 6 " / 8 " ou personalizado |
| Espessura | Capacidade para produzir, distribuir ou distribuir o material de um tipo ou de outro tipo |
| Orientação | (0001) Plano C, 4° fora do eixo / Personalizado |
| Revestimento de superfície | SSP (polished single side) / DSP (polished double side) / Lapped |
| Qualidade da superfície | Escrever-excavar por MIL-PRF-13830B (por exemplo, 20/10, 10/5) |
| Resistividade | ≥ 1 × 1010 Ω·cm (Semi-Isolador) |
| Densidade de microtubos (MPD) | ≤ 1 ea/cm2 (Classe de produção) / Personalizado |
| TTV (variação da espessura total) | ≤ 3 μm (ou por requisito do cliente) |
| Arco / Warp | ≤ 10 μm (ou por requisito do cliente) |
| Roughness (Ra) | Polido: ≤ 0,1 nm / Lapped: ≤ 0,5 μm |
| Tipo de borda | Com primário plano / entalhe (por padrão SEMI) |
| Perfil da borda | Chamfered / arredondado conforme necessário |
| Suplementos | Vanádio-dopado / Semi-Isolador intrínseco |
| Purificação | ≥ 99,9999% (6N Grade) |
| Revestimento | Não revestido / camada epitaxial / revestimento metálico disponível |
| Aplicação | Comunicação por RF / Epitaxia GaN / Microondas / Aeroespacial |
As wafers de carburo de silício HPSI são substratos fundamentais de núcleo amplamente aplicados na epitaxia de GaN RF, fabricação de dispositivos de alta frequência e sistemas eletrônicos de microondas.AlGaN e outro crescimento da camada epitaxial, operam em ambientes de fabrico extremos caracterizados por alta temperatura, alta densidade de potência, forte erosão do plasma e campos eletromagnéticos de alta frequência.
Em comparação com o zafiro, o silício e os materiais comuns de substrato cerâmico tradicionais, os substratos de SiC semi-isolantes de alta pureza integram propriedades físicas e elétricas abrangentes superiores,que os tornam insubstituíveis para processos de RF de ponta e semicondutores de alta potênciaAs principais vantagens incluem:![]()
Por estas razões, os substratos HPSI SiC tornaram-se o material predominante preferido para dispositivos de RF GaN, chips de comunicação de ondas milimétricas,Eletrónica aeroespacial e outros componentes de núcleo de semicondutores.
Especializamo-nos na fabricação de wafers HPSI SiC personalizados e padronizados para comunicação RF e equipamentos avançados de semicondutores,com foco em soluções personalizadas de alta precisão para produção industrial e P&D de laboratórioNós quebramos as limitações das especificações padrão fixas e personalizamos as wafers totalmente de acordo com os parâmetros reais do processo dos clientes,Requisitos de correspondência dos equipamentos e normas de concepção dos dispositivos.
As opções de personalização abrangentes abrangem os parâmetros das placas de processo completo e as estruturas de suporte:
Podemos fornecer componentes integrados acabados montados com wafers SiC e peças metálicas/cerâmicas correspondentes para atender às necessidades de instalação e uso diretos dos clientes.
Para as placas de SiC descontinuadas, peças originais difíceis de obter e substratos não normalizados personalizados para equipamentos especiais de semicondutores,fornecemos serviços profissionais de engenharia reversa e fabricação de substituiçãoOs clientes podem fornecer as seguintes informações para avaliação e cotação:
Nossa equipe de engenharia profissional irá realizar uma avaliação abrangente sobre a estrutura da wafer, desempenho do cristal, dificuldade de processamento e viabilidade de fabricação antes da cotação formal.Todas as placas de substituição personalizadas serão otimizadas para a compatibilidade do processoO desempenho de correspondência final deve ser confirmado de acordo com os padrões de configuração dos equipamentos reais e do processo de produção dos clientes, a fim de garantir uma diferença zero no efeito de utilização.
Implementamos uma inspecção de qualidade de precisão de processo completo para todas as wafers HPSI SiC,e pode fornecer itens de inspeção direcionados e relatórios de teste completos de acordo com os requisitos do projeto do cliente e as normas do setorOs principais conteúdos de inspecção incluem:
Podem ser fornecidos relatórios formais de inspecção com dados completos dos ensaios para apoiar a verificação dos materiais recebidos pelo cliente e a rastreabilidade da qualidade da produção.
Para garantir uma cotação exacta e reduzir o ciclo de entrega, forneça as seguintes informações pormenorizadas ao consultar:
Se não estiverem disponíveis desenhos técnicos completos, forneça fotos claras de alta definição e amostras físicas da bolacha para que a nossa equipa possa realizar testes de parâmetros e avaliação do esquema.
Para que se utilizam principalmente as placas HPSI SiC?
As wafers SiC HPSI (High Purity Semi-Isolating) são substratos portadores de núcleo para RF de alta frequência e fabricação de dispositivos avançados de semicondutores, utilizados principalmente em amplificadores de potência GaN RF,Chips de estação base 5G, radar de ondas milimétricas, eletrónica aeroespacial, MMIC de microondas e outros campos, adequados para epitaxia a alta temperatura, deposição de película fina e processos de gravação de precisão.
Pode fornecer peças personalizadas de montagem de wafer integrado?
Além de substratos individuais de wafer de SiC, podemos personalizar vários acessórios, bases metálicas,componentes de posicionamento e conjuntos integrados acabados, de acordo com os desenhos e os requisitos de amostras, a realização de um único ponto de apoio de abastecimento.
Pode produzir bolinhas de substituição para equipamentos antigos e especiais?
Suportamos a fabricação personalizada de serviço completo, incluindo produção baseada em desenho e engenharia reversa de amostras.amostras físicas e informações sobre o equipamento, e a nossa equipa irá completar a comparação de desempenho e fabricação alternativa.
Podem ser personalizados todos os parâmetros essenciais das wafers de SiC?
Todos os parâmetros chave, incluindo o tamanho da bolacha, espessura, politipo de cristal, processamento de bordas, rugosidade da superfície,a planura e o grau de polir podem ser totalmente personalizados de acordo com os requisitos do processo do cliente para atender às necessidades personalizadas de P&D e produção.
Apoia a encomenda de pequenos lotes e protótipos?
Apoiamos totalmente o desenvolvimento de protótipos, testes laboratoriais de pequenos lotes, manutenção de equipamentos, substituição e encomendas de produção em massa.Vamos avaliar o esquema de produção e citação de acordo com parâmetros personalizados e dificuldade de processamento.