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Sic carcaça
Created with Pixso. Sic Wafer HPSI:Semi-isolação de alta pureza MPD de alta condutividade térmica controlada

Sic Wafer HPSI:Semi-isolação de alta pureza MPD de alta condutividade térmica controlada

Nome da marca: ZMSH
Número do modelo: Bolacha SiC HPSI
MOQ: 25
Preço: Fluctuates with market
Tempo de entrega: 2-4 semanas
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
Xangai,China
Polytype:
4H-SiC convencional
Diâmetro:
4/6/8 polegadas disponíveis
Grossura:
Os tamanhos padrão são 350μm, 500μm e 650μm
Resistividade:
≥1×10¹⁰ Ω・cm (especificação elétrica do núcleo HPSI)
Tratamento de superfície:
Polimento de espelho CMP unilateral/dupla face
Densidade de Micropipe:
Grau de produção em massa ≤1 ea/cm²
Descrição do produto

Informações sobre as placas HPSI SiC

As wafers de carburo de silício HPSI (High Purity Semi-Insulating) são substratos fundamentais críticos para dispositivos de RF GaN de alta frequência e semicondutores avançados de terceira geração.Com a rápida expansão da comunicação 5G, mercados de radar de ondas milimétricas e de electrónica aeroespacial, o mercado mundial de substratos de SiC deverá exceder 2 mil milhões de USD até 2030,desempenhar um papel estratégico insubstituível na comunicação sem fio de próxima geração e sistemas eletrónicos de alta potência.Sic Wafer HPSI:Semi-isolação de alta pureza MPD de alta condutividade térmica controlada

 

A montante: pó de carburo de silício de alta pureza (acima do grau 6N), fornos de crescimento de cristais de transporte físico de vapor (PVT) e componentes de campo térmico de grafite de alta pureza.Os equipamentos de crescimento de cristais de alta qualidade e as matérias-primas de ultra-alta pureza continuam a depender parcialmente das importações na cadeia industrial. Meio fluxo: crescimento de cristal único de SiC → moldagem de lingotes → corte de vários fios → lapagem → polimento químico mecânico (CMP) → tratamento de superfície pronto para epitaxia.Este segmento apresenta barreiras técnicas extremamente elevadas, com rendimento de cristal e controlo de defeitos como indicadores competitivos essenciais.chips de radar de ondas milimétricas, componentes electrónicos aeroespaciais, dispositivos de microondas de alta frequência e protótipos de dispositivos de energia de alta tensão.A procura a jusante continua a crescer, impulsionada pela modernização das tecnologias de comunicação e pelas novas indústrias da energia e da defesa.

 

Os Wafers 4H HPSI SiC são substratos de carburo de silício monocristalino semi-isolantes de alta pureza com orientação cristalina <0001>,Produzido principalmente através do método de crescimento de cristais Physical Vapor Transport (PVT)A propriedade de semi-isolação é obtida através de controlo de pureza ultra-alta e tecnologia de dopagem de vanádio, alcançando uma resistência extremamente elevada.A superfície preparada para epi é submetida a polimento CMP de precisão para obter suavidade a nível atômico, satisfazendo os rigorosos requisitos de epitaxia de GaN do MOCVD.

Características fundamentais

Material SiC semi-isolante de alta pureza

As nossas placas HPSI SiC são fabricadas a partir de carburo de silício de cristal único de alta pureza de grau 6N (4H-SiC), especialmente desenvolvido para RF de alta frequência e ambientes de fabricação de semicondutores de ponta.O material apresenta uma excelente condutividade térmica, ultra-alta resistividade eléctrica, excelente resistência à corrosão química e superior resistência mecânica, mantendo um desempenho eléctrico e físico estável sob epitaxia a alta temperatura,operação de alta potência e condições adversas de processamento de plasma.

Multiplos tipos e opções de orientação para dispositivos diversos

Os substratos de SiC estão disponíveis em politipos convencionais e orientações cristalinas para corresponder a diferentes requisitos dos dispositivos de semicondutores.O 4H-SiC é a escolha dominante para dispositivos de RF e potência com mobilidade eletrônica equilibrada e estabilidade do materialAs opções 6H-SiC atendem a cenários especiais de dispositivos optoeletrônicos e de alta temperatura.4° fora do eixo) estão disponíveis para otimizar a qualidade da camada epitaxial e o rendimento do dispositivo.

Ultra-precisão de polimento CMP e desempenho de planície

Disponível em graus SSP (Single Side Polished) e DSP (Double Side Polished) para se adequar a diferentes cenários de processo.com TTV estritamente controladaA superfície lisa e livre de defeitos a nível atómico cumpre perfeitamente os padrões de crescimento de epitaxia de GaN MOCVD,assegurando a deposição uniforme da camada epitaxial e a alta consistência do desempenho de RF do dispositivo.Sic Wafer HPSI:Semi-isolação de alta pureza MPD de alta condutividade térmica controlada

Excelentes propriedades elétricas e térmicas

Os substratos HPSI SiC fornecem uma resistência ultra-alta (≥ 1 × 1010 Ω · cm) e uma perda dielétrica ultra-baixa, eliminando efetivamente a transmissão de sinal e a fuga para dispositivos de RF de alta frequência e alta potência.Com condutividade térmica 3×4 vezes superior à do safiro, eles oferecem excelente capacidade de dissipação de calor, melhorando significativamente a densidade de potência do dispositivo e a confiabilidade a longo prazo sob operação de alta carga.

Fabricação de substratos de precisão personalizados

As especificações do substrato podem ser totalmente personalizadas de acordo com os requisitos técnicos do cliente, incluindo:

  • Diâmetro da bolacha: 2 / 4 / 6 / 8 polegadas
  • Espessura padrão e personalizada
  • Polítipo de cristal e angular exato
  • Modos de polimento SSP / DSP
  • Tolerância à rugosidade da superfície e ao plano
  • Chafariz de borda e acabamento de borda
  • Projeto primário de posicionamento plano / em entalhe
  • Nível de limpeza e processo de limpeza de precisão

Processamento funcional e serviços personalizados de valor acrescentado

Além de wafers de SiC nus padrão, fornecemos processamento funcional personalizado de processo completo para suportar aplicações diversificadas de clientes.

  • Crescimento da camada epitaxial (GaN / AlGaN em SiC)
  • Metalização completa / localizada (revestimento Ti / Ni / Au / Cr)
  • Processamento de obturadores ultrafinos e de redução de tensão
  • De alta precisão, de corte, perfuração e moldagem especial
  • Revestimento de superfícies sob medida (polido / lapagem / gravação)
  • Inspecção rigorosa da qualidade e certificação completa do COA

Substituição personalizada e soluções de substrato de qualidade OEM

Apoiamos o desenvolvimento e produção personalizados de wafer SiC com base em desenhos do cliente, amostras de referência, parâmetros de processo de equipamento,especificações de componentes existentes e exigências de engenharia reversaTodos os produtos estão em conformidade com as normas RoHS e REACH, proporcionando soluções de substrato estáveis e de alto rendimento para a modernização de processos de semicondutores, equipamento de correspondência e projetos de substituição localizados.

Aplicações típicas

As placas HPSI SiC são substratos fundamentais de núcleo amplamente adotados nas indústrias de comunicação por RF e de semicondutores avançados, aplicáveis aos seguintes dispositivos e processos de fabricação:

  • Fabricação de amplificadores de potência de RF baseados em GaN e de dispositivos HEMT
  • Chips front-end de estação base 5G / 6G RF
  • Radar de ondas milimétricas e chips de radar para automóveis
  • Componentes eletrónicos de comunicações por satélite e aeroespaciais
  • Circuitos integrados monolíticos de microondas e ondas milimétricas (MMIC)
  • Investigação e desenvolvimento de dispositivos eletrónicos de potência de alta frequência e prototipagem
  • Eletrónica de defesa e sistemas de radar de matriz em fase
  • Embalagens de dispositivos semicondutores resistentes a altas temperaturas
  • Equipamentos de vácuo de semicondutores e partes de isolamento de alta temperatura
  • Embalagens de dispositivos de RF de alta potência e substratos de gestão térmica

Os substratos HPSI SiC foram produzidos em massa comercialmente para cenários de RF convencionais e semicondutores de ponta, com consistência estável de lote,Baixa taxa de defeitos e excelente compatibilidade de processos.

Especificações do produto

 

Ponto Especificações
Produto HPSI Wafer de carburo de silício / Substrato de SiC
Materiais Cristais únicos de 4H-SiC de alta pureza semi-isolantes
Método de crescimento Transportes físicos de vapor (PVT)
Estrutura cristalina Estrutura hexagonal de Wurtzita
Diâmetro 2 " / 4 " / 6 " / 8 " ou personalizado
Espessura Capacidade para produzir, distribuir ou distribuir o material de um tipo ou de outro tipo
Orientação (0001) Plano C, 4° fora do eixo / Personalizado
Revestimento de superfície SSP (polished single side) / DSP (polished double side) / Lapped
Qualidade da superfície Escrever-excavar por MIL-PRF-13830B (por exemplo, 20/10, 10/5)
Resistividade ≥ 1 × 1010 Ω·cm (Semi-Isolador)
Densidade de microtubos (MPD) ≤ 1 ea/cm2 (Classe de produção) / Personalizado
TTV (variação da espessura total) ≤ 3 μm (ou por requisito do cliente)
Arco / Warp ≤ 10 μm (ou por requisito do cliente)
Roughness (Ra) Polido: ≤ 0,1 nm / Lapped: ≤ 0,5 μm
Tipo de borda Com primário plano / entalhe (por padrão SEMI)
Perfil da borda Chamfered / arredondado conforme necessário
Suplementos Vanádio-dopado / Semi-Isolador intrínseco
Purificação ≥ 99,9999% (6N Grade)
Revestimento Não revestido / camada epitaxial / revestimento metálico disponível
Aplicação Comunicação por RF / Epitaxia GaN / Microondas / Aeroespacial

Por que escolher as wafers HPSI SiC para aplicações de semicondutores e RF?

As wafers de carburo de silício HPSI são substratos fundamentais de núcleo amplamente aplicados na epitaxia de GaN RF, fabricação de dispositivos de alta frequência e sistemas eletrônicos de microondas.AlGaN e outro crescimento da camada epitaxial, operam em ambientes de fabrico extremos caracterizados por alta temperatura, alta densidade de potência, forte erosão do plasma e campos eletromagnéticos de alta frequência.

Em comparação com o zafiro, o silício e os materiais comuns de substrato cerâmico tradicionais, os substratos de SiC semi-isolantes de alta pureza integram propriedades físicas e elétricas abrangentes superiores,que os tornam insubstituíveis para processos de RF de ponta e semicondutores de alta potênciaAs principais vantagens incluem:Sic Wafer HPSI:Semi-isolação de alta pureza MPD de alta condutividade térmica controlada

  • Ultra-alta condutividade térmica: Com uma condutividade térmica de até 490 W/m·K, 3×4 vezes superior ao zafiro e 10 vezes superior ao silício, dissipa eficientemente o calor gerado por dispositivos de alta potência,Melhoria considerável da densidade de potência e da vida útil do dispositivo.
  • Estabilidade extrema a altas temperaturas: Com um ponto de fusão de até 2700°C, mantém estrutura cristalina estável e precisão dimensional sob epitaxia a altas temperaturas e operação de alta potência a longo prazo,evitar eficazmente a deformação do substrato e a degradação do desempenho do dispositivo.
  • Performance de semi-isolação ultra-alta: Com uma resistência superior a 1 × 1010 Ω·cm e perdas dielétricas ultra-baixas, fornece isolamento elétrico fiável para dispositivos de RF de alta frequência,reduzindo eficazmente a transmissão de sinal e a perda de inserção.
  • Inercia química superior: É resistente à corrosão por vários gases ácidos, alcalinos e de processo reativos utilizados na fabricação de semicondutores, sem reação química ou deterioração da superfície,assegurar condições de processo ultralimpas.
  • Excelente resistência ao plasma e à radiação: Resiste a bombardeios de plasma a longo prazo e à radiação de alta energia em processos de deposição e gravação de película fina, com baixa taxa de danos à superfície e desempenho estável.
  • Alta resistência mecânica e durezaCom dureza de Mohs de 9.5, segundo apenas ao diamante, oferece excelente resistência ao desgaste e estabilidade estrutural, resistindo a danos mecânicos e deformação durante o processamento de precisão e crescimento de película fina.
  • Durabilidade do processo a longo prazo: Mantém uma superfície plana e uma qualidade cristalina consistentes em processos de produção de semicondutores repetitivos e rigorosos, reduzindo consideravelmente a frequência de substituição do substrato e os custos de produção.

Por estas razões, os substratos HPSI SiC tornaram-se o material predominante preferido para dispositivos de RF GaN, chips de comunicação de ondas milimétricas,Eletrónica aeroespacial e outros componentes de núcleo de semicondutores.

Fabricação de Waferes de SiC sob medida

Especializamo-nos na fabricação de wafers HPSI SiC personalizados e padronizados para comunicação RF e equipamentos avançados de semicondutores,com foco em soluções personalizadas de alta precisão para produção industrial e P&D de laboratórioNós quebramos as limitações das especificações padrão fixas e personalizamos as wafers totalmente de acordo com os parâmetros reais do processo dos clientes,Requisitos de correspondência dos equipamentos e normas de concepção dos dispositivos.

As opções de personalização abrangentes abrangem os parâmetros das placas de processo completo e as estruturas de suporte:

Parâmetros do núcleo da wafer SiC

  • Diâmetro da bolacha (2/4/6/8 polegadas e tamanhos especiais personalizados)
  • Espessura da bolacha
  • Politipo de cristal (4H-SiC, 6H-SiC) e especificação fora de ângulo
  • Forma da borda e especificações de camuflagem
  • Projeto de posicionamento plano / em entalhe
  • Abrangência e planura da superfície
  • Requisitos de polir de dois lados ou de um só lado
  • Tratamento de superfícies ultralimpas e processamento de redução de tensão

Combinação de componentes estruturais

  • Personalização do tamanho da fixação do suporte do substrato
  • Processamento de buracos e sulcos de posicionamento
  • Base e estrutura de mangas metálicas
  • Especificações de montagem e fixação das interfaces
  • Montagem integrada de substratos e partes auxiliares

Podemos fornecer componentes integrados acabados montados com wafers SiC e peças metálicas/cerâmicas correspondentes para atender às necessidades de instalação e uso diretos dos clientes.

Serviço de substituição e engenharia reversaSic Wafer HPSI:Semi-isolação de alta pureza MPD de alta condutividade térmica controlada

Para as placas de SiC descontinuadas, peças originais difíceis de obter e substratos não normalizados personalizados para equipamentos especiais de semicondutores,fornecemos serviços profissionais de engenharia reversa e fabricação de substituiçãoOs clientes podem fornecer as seguintes informações para avaliação e cotação:

  • Número da peça do equipamento original
  • Desenhos técnicos pormenorizados e especificações dos parâmetros
  • Fotografias claras do produto e amostras físicas (novas/usadas)
  • Dados de parâmetros de dimensão chave e cristal
  • Modelo de equipamento de apoio e informações sobre os lotes
  • Cenários específicos de aplicação e parâmetros do ambiente de processo

Nossa equipe de engenharia profissional irá realizar uma avaliação abrangente sobre a estrutura da wafer, desempenho do cristal, dificuldade de processamento e viabilidade de fabricação antes da cotação formal.Todas as placas de substituição personalizadas serão otimizadas para a compatibilidade do processoO desempenho de correspondência final deve ser confirmado de acordo com os padrões de configuração dos equipamentos reais e do processo de produção dos clientes, a fim de garantir uma diferença zero no efeito de utilização.

Controle de qualidade

Implementamos uma inspecção de qualidade de precisão de processo completo para todas as wafers HPSI SiC,e pode fornecer itens de inspeção direcionados e relatórios de teste completos de acordo com os requisitos do projeto do cliente e as normas do setorOs principais conteúdos de inspecção incluem:

  • Inspecção de precisão em dimensões completas (diâmetro, espessura, calibração de tolerâncias)
  • Orientação cristalina e detecção da precisão do politipo
  • Ensaios de planura, deformação e rugosidade da superfície
  • Inspecção da densidade dos microtubos e da densidade dos defeitos
  • Ensaios de resistência e de desempenho elétrico
  • Inspecção de defeitos visuais (arranhões, buracos, rachaduras, inclusões)
  • Limpeza e detecção de tensões superficiais
  • Inspecção profissional das embalagens à prova de colisão e poeira

Podem ser fornecidos relatórios formais de inspecção com dados completos dos ensaios para apoiar a verificação dos materiais recebidos pelo cliente e a rastreabilidade da qualidade da produção.

Que informações você deve enviar para um orçamento?

Para garantir uma cotação exacta e reduzir o ciclo de entrega, forneça as seguintes informações pormenorizadas ao consultar:

  • Desenhos técnicos completos do produto e fichas de parâmetros
  • Requisitos em matéria de diâmetro, espessura e tolerância da bolacha
  • Especificações do politipo de cristal, orientação e desangulo
  • Requisitos de acabamento da superfície, grau de polimento e limpeza
  • Parâmetros dos componentes auxiliares correspondentes (se houver)
  • Marca, modelo e condições de processo de apoio dos equipamentos
  • Número original da peça OEM (se disponível)
  • Quantidade exigida e procura de lotes
  • Processo específico de aplicação e requisitos ambientais extremos

Se não estiverem disponíveis desenhos técnicos completos, forneça fotos claras de alta definição e amostras físicas da bolacha para que a nossa equipa possa realizar testes de parâmetros e avaliação do esquema.

Perguntas frequentes

Para que se utilizam principalmente as placas HPSI SiC?

As wafers SiC HPSI (High Purity Semi-Isolating) são substratos portadores de núcleo para RF de alta frequência e fabricação de dispositivos avançados de semicondutores, utilizados principalmente em amplificadores de potência GaN RF,Chips de estação base 5G, radar de ondas milimétricas, eletrónica aeroespacial, MMIC de microondas e outros campos, adequados para epitaxia a alta temperatura, deposição de película fina e processos de gravação de precisão.

 

Pode fornecer peças personalizadas de montagem de wafer integrado?

Além de substratos individuais de wafer de SiC, podemos personalizar vários acessórios, bases metálicas,componentes de posicionamento e conjuntos integrados acabados, de acordo com os desenhos e os requisitos de amostras, a realização de um único ponto de apoio de abastecimento.

 

Pode produzir bolinhas de substituição para equipamentos antigos e especiais?

Suportamos a fabricação personalizada de serviço completo, incluindo produção baseada em desenho e engenharia reversa de amostras.amostras físicas e informações sobre o equipamento, e a nossa equipa irá completar a comparação de desempenho e fabricação alternativa.

 

Podem ser personalizados todos os parâmetros essenciais das wafers de SiC?

Todos os parâmetros chave, incluindo o tamanho da bolacha, espessura, politipo de cristal, processamento de bordas, rugosidade da superfície,a planura e o grau de polir podem ser totalmente personalizados de acordo com os requisitos do processo do cliente para atender às necessidades personalizadas de P&D e produção.

 

Apoia a encomenda de pequenos lotes e protótipos?

Apoiamos totalmente o desenvolvimento de protótipos, testes laboratoriais de pequenos lotes, manutenção de equipamentos, substituição e encomendas de produção em massa.Vamos avaliar o esquema de produção e citação de acordo com parâmetros personalizados e dificuldade de processamento.

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