Equipamento de corte a laser de grande formato: tecnologia básica para a futura produção de wafers SiC de 8 polegadas
O carburo de silício (SiC) representa não só uma tecnologia crítica para a segurança da defesa nacional, mas também um foco chave para as indústrias globais de automóveis e energia.Como etapa inicial de processamento para materiais monocristalinos de SiC, a qualidade do corte em pedaços da wafer determina fundamentalmente o desempenho subsequente do afinamento e polimento.aumento das taxas de quebra e dos custos de fabricoPortanto, controlar os danos causados pelas rachaduras na superfície é crucial para avançar na tecnologia de fabricação de dispositivos SiC.
Equipamento de desbaste de wafer da ZMSH
O atual corte de lingotes de SiC enfrenta dois grandes desafios:
Para enfrentar esses desafios, a equipe do Prof. Xiangqian Xiu, da Universidade de Nanjing, desenvolveu equipamentos de corte a laser de grande formato que reduzem significativamente a perda de material e melhoram a produtividade.Para um lingote de SiC de 20 mmAlém disso, as wafers cortadas a laser apresentam características geométricas superiores, permitindo uma espessura de 200 μm para aumentar ainda mais o rendimento.
As vantagens competitivas deste projecto incluem:
A análise do mercado confirma este equipamento como a futura solução básica para a produção de SiC de 8".000 unidades sem alternativas locais madurasA inovação da Universidade de Nanjing tem, portanto, um potencial comercial significativo, com aplicações adicionais em GaN, Ga2O3 e processamento de diamantes.
A ZMSH é especializada em fornecer soluções abrangentes de SiC, oferecendo substratos de SiC de 2 a 12 polegadas, incluindo o tipo 4H/6H-N, o semi-isolante 4H e os politipos 4H/6H-3C com espessuras personalizáveis. Também fornecemos equipamentos completos de produção de SiC, desde sistemas de crescimento de cristais até máquinas avançadas de processamento de wafer, incluindo equipamentos de corte e afinamento a laser,fornecimento de soluções de ponta a ponta para a indústria de semicondutores.
Substrato de SiC do ZMSH tipo 4H-N
Pessoa de Contato: Mr. Wang
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