Visão Geral Abrangente de Cerâmicas Avançadas Utilizadas em Equipamentos Semicondutores
Componentes cerâmicos de precisão são elementos essenciais em equipamentos centrais para processos-chave de fabricação de semicondutores, como fotolitografia, gravação, deposição de filmes finos, implantação iônica e CMP. Essas peças — incluindo rolamentos, guias, revestimentos de câmaras, pinças eletrostáticas e braços robóticos — são especialmente críticas dentro das câmaras de processo, onde servem funções como suporte, proteção e controle de fluxo.
Este artigo fornece uma visão geral sistemática de como as cerâmicas de precisão são aplicadas nos principais equipamentos de fabricação de semicondutores.
Para garantir alta precisão do processo em sistemas avançados de fotolitografia, uma ampla gama de componentes cerâmicos com excelente multifuncionalidade, estabilidade estrutural, resistência térmica e precisão dimensional é utilizada. Estes incluem pinças eletrostáticas, pinças a vácuo, blocos, bases de ímãs refrigeradas a água, refletores, guias, plataformas e suportes de máscara.
Óxido de Berílio (BeO), Nitreto de Alumínio (AlN) Pinça eletrostática, plataforma de movimento
Aquecedores:Pinças eletrostáticas: Alumina (Al₂O₃), Nitreto de Silício (Si₃N₄), Plataformas de movimento: Cerâmica de cordierita, Carbeto de Silício (SiC)
Desafios técnicos: Design de estrutura complexa, controle de matéria-prima e sinterização, gerenciamento de temperatura e usinagem de ultra precisão.
O sistema de materiais das plataformas de movimento de litografia é crucial para alcançar alta precisão e velocidade de varredura. Os materiais devem apresentar alta rigidez específica e baixa expansão térmica para suportar movimentos de alta velocidade com distorção mínima — melhorando assim a produtividade e mantendo a precisão.
A gravação é fundamental para transferir padrões de circuito da máscara para o wafer. Os principais componentes cerâmicos usados em ferramentas de gravação incluem a câmara, a janela de visualização, a placa de distribuição de gás, os bicos, os anéis isolantes, as placas de cobertura, os anéis de foco e as pinças eletrostáticas.
Óxido de Berílio (BeO), Nitreto de Alumínio (AlN) Pinça eletrostática, anel de foco, placa de distribuição de gás
Principais materiais cerâmicos: Quartzo, SiC, AlN, Al₂O₃, Si₃N₄, Y₂O₃
Com a redução das geometrias dos dispositivos, controles de contaminação mais rigorosos são necessários. As cerâmicas são preferidas em relação aos metais para evitar a contaminação por partículas e íons metálicos.
Alta pureza, contaminação mínima por metais
Quimicamente inerte, especialmente para gases de gravação à base de halogênio
Alta densidade, porosidade mínima
Grão fino, baixo teor de contorno de grão
Boa usinabilidade mecânica
Propriedades elétricas ou térmicas específicas, se necessário
Apresentando centenas ou milhares de microfuros perfurados com precisão, essas placas distribuem uniformemente os gases de processo, garantindo uma deposição/gravação consistente.
As exigências de uniformidade do diâmetro do furo e paredes internas sem rebarbas são extremamente altas. Mesmo pequenas variações podem causar variação na espessura do filme e perda de rendimento.
Projetado para equilibrar a uniformidade do plasma e corresponder à condutividade do wafer de silício. Comparado ao silício condutivo tradicional (que reage com o plasma de flúor para formar SiF₄ volátil), o SiC oferece condutividade semelhante e resistência superior ao plasma, permitindo uma vida útil mais longa.
1. CMP (Polimento Químico-Mecânico)
Principais componentes cerâmicos:
Óxido de Berílio (BeO), Nitreto de Alumínio (AlN)Materiais principais:
Aquecedores: Nitreto de Alumínio (AlN), Alumina (Al₂O₃)Aquecedor Cerâmico:
Processos Back-End: Cerâmicas de Precisão em Equipamentos de Embalagem e Teste
1. CMP (Polimento Químico-Mecânico)
Principais componentes cerâmicos:
Óxido de Berílio (BeO), Nitreto de Alumínio (AlN)
- <1 μmCabeças de Ligação por Termocompressão: Cerâmicas AlN com condutividade térmica de 220 W/m·K; uniformidade de temperatura ±2°C
- Substratos LTCC: Precisão da largura da linha de até 10 μm; suporta transmissão 5G mmWave
- Ferramentas Capilares Cerâmicas: Usadas na ligação por fio, comumente feitas de Al₂O₃ ou alumina reforçada com zircônia
- 3. Estações de TestePrincipais componentes cerâmicos:
Óxido de Berílio (BeO), Nitreto de Alumínio (AlN)
- Dispositivos de Teste de Alta Frequência: Cerâmicas AlN para desempenho RF estável
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